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器件型号：TAS5411-Q1 大家好、
客户正在从系统的角度评估和测试故障状况、并提出以下问题。
在这种情况下、PVDD 会在 nSTANDBY 保持供电时很快关断。
在这种情况下、是否存在因从 nSTANDBY 到器件的泄漏路径中可能存在高电流而导致的负侧效应或永久损坏的问题？
此致、
大家好、
客户正在从系统的角度评估和测试故障状况、并提出以下问题。
在这种情况下、PVDD 会在 nSTANDBY 保持供电时很快关断。
在这种情况下、是否存在因从 nSTANDBY 到器件的泄漏路径中可能存在高电流而导致的负侧效应或永久损坏的问题？
此致、
