https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/808815/opa1678-esd-absorption-device
器件型号：OPA1678您好！
产品的 ESD 抗扰度存在挑战。 我假设吸收器件已激活(电源复位后无芯片损坏)。 由于电源上有 RC 网络、因此不会有过多的电源电流会烧断芯片。 运算放大器在噪声或失真等方面没有参数下降、并且产品具有与 ESD 事件之前相同的特性。
我的问题是：
PWR 和 GND 引脚之间超过吸收器件阈值的瞬态电压是否完全是激活吸收器件的唯一原因，或者可以在不超过此阈值的情况下激活吸收器件，例如高 dV/dt？ 我认为我在某个地方读过这个... 是否有任何其他原因可以激活吸收装置？
我提出这个问题的原因是、我在将 TVS 二极管连接到 PWR 引脚(电源电压为21.5V、单极)的情况下测试了该设计、并且吸收器件可以再次被激活。 我使用了该二极管：
PTVS22VS1UR.115
https://assets.nexperia.com/documents/data-sheet/PTVSXS1UR_SER.pdf
此外、我认为在我的案例中、瞬态会通过运算放大器的输出。 输入受到电阻器/电容器/铁氧体磁珠/TVS 器件的保护。 在电源引脚上、我有100N||10uF|10uF/X7R、全接地平面、但有双面 PCB、因此我没有电源平面。 我使用仅200MHz 的有限带宽和屏蔽差分探头测量 ESD 响应、因此实际上看不到这里到底是什么。 测量期间有很多共模噪声、但我可以看到更高或更低的能量。 在 法拉第笼中屏蔽差分探头和测量引线(增加了铁氧体环)、并使用该差分将示波器接地连接在一起。 探头法拉第笼和另一个执行测试的半法拉第笼(DUT 笼)有助于最大程度地降低共模噪声。 。 从统计学上讲、我可以通过向放大器输出添加47pF 来减少吸收器件激活的次数。 过去3个月、我仍在探讨这个问题。
此致、
Zvonko
