[参考译文] TLV320ADC6120：器件增益不匹配

尊敬的 JEF-SAN：

感谢您的答复和支持。

THD + N 会逐渐下降、THD + N 会迅速下降的波形。
这两个 THD + N 转换之间的差异是否在器件变化范围内？

此致、
石渡市

您好、石渡山、

如果 ADC+N 在 THD 满量程范围或其附近情况恶化、那么这两个差异在器件变化范围内。

此致、
J·麦克弗森

尊敬的 JEF-SAN：

感谢您的支持和回答。

客户正在评估许多器件、但 THD + N 曲线似乎是极化的。

客户认为不会出现极化、并且 THD + N 曲线会出现许多变化。

你知道极化的原因吗? 极化特性是否由于对器件的某些影响而出现？

此致、
石渡市

您好、石渡山、

您能否详细说明一下极化是什么意思？

您是说在很多样本中、THD + N 曲线只拟合到两条曲线中、就像您之前分享的曲线一样？

谢谢！
J·麦克弗森

尊敬的 JEF-SAN：

感谢您的支持和回答。

偏振指两个特征:当 THD + N 逐渐恶化和急剧恶化时。
以下是以横轴作为输出标准的结果。

会恶化的特征有两种。 有没有可能的原因？
另外、接近满量程的器件之间的失真有多大变化？

此致、
石渡市

您好、石渡山、

此类行为没有针对我们指定的进行测试、因此我们无法提供变体。 但是、我可以联系我们的设计团队、看看是否可以解决导致此问题的原因。 您是否能够以 dBFS 的形式再次与 x 轴共享数据？ 因为这是一种模拟测量、而且这是数字数据、DBU 没有用处。

谢谢！
J·麦克弗森

尊敬的 JEF-SAN：

感谢您的支持和回答。

客户计划在下周下半年以 dBFS 为单位进行测量、以进行准备。
请稍等片刻。

此致、
石渡市

您好、石渡山、

谢谢你。 如果您有数据、请予以回复。 我会告诉您设计团队何时响应；现在是在印度的假期、因此至少需要一天时间。

此致、
J·麦克弗森

您好、石渡山、

设计团队回应了我。 他们表示 THDN 行为之间的差异可能是由于信号链中不同级发生削波而造成的。 虽然 TI 数据表指定了在系统级产生削波的满量程电压、但信号链中各个 块之间的容差可能导致不同块首先在器件之间削波。

例如、假设信号链包含块 A 和 B。块 A 在削波发生时具有快速的 THDN 劣化、而块 B 在削波发生时具有倾斜的 THDN 劣化。 在某些器件中、模块 A 可能在模块 B 之前削波、而在其他器件中、模块 A 可能在模块 B 之前削波、而在所有器件中、削波电压相同(数据表中的典型满量程值)。

此行为不是经过测试或设计的、因为它不属于建议的用例。

此致、
J·麦克弗森

尊敬的 JEF-SAN：

感谢您的支持和回答。

感谢设计团队的回复。
是否只有两种类型的此削波？ 我有块 A 和块 B、有任何其他块吗？

此致、
石渡市

您好、石渡山、

我仅使用了 A 和 B 作为理论示例。 实际情况可能包括更多的块、但考虑到您的数据集、我只能期待这两种削波模式。

此致、
J·麦克弗森

尊敬的 JEF-SAN：

感谢您的支持和回答。

客户测量的水平轴 dBFS。
经证实，情况突然恶化和逐渐恶化。

我知道原因是削波有所不同。
了解削波的相关内容。
如果两个块 A 和 B 卡夹都有严重损耗吗？
或者只在块 A 中退化会很严重吗？ 例如，挡块 A 将经历急剧的劣化，而挡块 B 将经历逐渐的劣化。

此致、
石渡市

您好、石渡山、

如果两个块都削波、那么输出中的急剧恶化将占主导地位。 您可以看到两条曲线是如何接近的、这反映了当输入显著在削波区域中并且两个块削波时、行为变得更加一致。

此致、
J·麦克弗森

尊敬的 JEF-SAN：

感谢您的支持和回答。

我了解。
我还有一个问题：能否回答接近满量程的器件之间存在多少失真变化？

此致、
石渡市

您好、石渡山、

我不确定"失真变化"的含义、但没有给出满量程值的最小值或最大值。  根据显示最坏情况削波发生在-0.3dB 左右的数据、您可以预计满量程电压在单端模式下最低0.967V、差分1.934V。 由于您已经采集了16个样本、因此如果您再采集14个样本来获得一组30个样本、这就是我们认为具有静态意义的样本集。 您可以很好地了解失真变化。

此致、
J·麦克弗森

尊敬的 JEF-SAN：

很抱歉这么晚才回复。
我向客户解释了这一点。 客户表示有信心。
感谢您的支持。

此致、
石渡市