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尊敬的:
一位,用3104作为他的应用。当他用自己的板测试信号时,发现 DOUT 有异常的高或低电平, 请参考附的曲线。 此外、 WCLK 信号上显然存在串扰。 串扰频率与 BCLK 一致、并且检查布局时、WCLK 与电路板上 BCLK 布线之间有足够的间隙。
在 TI 的评估套件 TLV320AIC314EVM-K 中也会看到此 器件、其配置为主 模式、DSP 模式、MCLK 12MHz 由外部供电、BCLK 256KHz 和 WCLK 8kHz 通过 MCLK 分频生成。
此致
凯林
您好!
您能否提供有关该问题的更多信息? 他们是否未正确录制音频? 它们是否看到不良波形等?
它们是否能够使用 BCLK 和 WCLK 一起捕获 DOUT 并显示干扰?
此致
您好,
到目前为止、即使在高温或低温环境下、我们也没有得到错误的调优记录、迄今为止、该函数似乎还不错。
波形如下图:其中绿色为 BCLK、蓝色为 WCLK、黄色为 DOUT。
高侧毛刺脉冲比较频繁、它们通常伴随 WCLK、但有时只是针对没有 WCLK 的 BCLK 进行对齐。 低侧干扰不太频繁。 我们在低侧没有 WCLK 时未捕获干扰、但可能是由于采样不足所致。
我们主要关心的是干扰、它们看起来很强、并且非常接近采样边沿。
请告知。 谢谢你。
此致
凯林
可以通过在总线上使用串联电阻来减少此类尖峰/瞬态、例如在 WCLK、BCLK 和 Data 上放置一个0欧姆电阻。
从上面的范围来看、它显示在 BCLK 的上升沿和 DSP/TDM 模式、数据锁存在下降沿、因此不会导致任何问题。
尽管如此、它们可以添加一个串联电阻来减少总线上的瞬态。
此致。