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器件型号：CC2340R5-Q1主题中讨论的其他器件： LP-EM-CC2340R5
工具/软件：
您好团队：
我们将 CC2340R5-Q1 系列、 CC2340R52E0WRHBRQ1 用作 2 级产品的 BLE 器件、在测试 TX 性能时、使用 SmartRF Studio 在传导模式下、最大漂移率失败、其在多个频率下超过 20KHz/50us 限制、我们如何解决此问题您可以建议？
让人惊讶的是、当 我们在传导模式下对 LP-EM-CC2340R5 评估板进行相同的测试时、也无法在多个频率下进入最大漂移率。 我认为晶体负载电容调谐的效果优于我们的 DUT。
请提供建议、因为目前我们使用的是 50ppm 的晶体、一旦由于频率漂移误差、它仍低于 (+/- 120kHz)、则符合所需的+/–150kHz。 晶体负载电容调整是否会解决问题或我们可能需要执行的其他操作？