[参考译文] CC2340R5：如何确保键合信息未损坏？

您好！

您是正确的、  最新 SDK 中的 gapBondMgrReadBondRec 已替换为 GapBondMgr_readBondFromNV 函数。  传递给此函数的 gapBondNvRecord_t 对象将填充绑定的值。 两个功能具有相同的用途。 该函数的文档目前存在一个错误、未显示该错误、但您仍可以在  C：\ti\simplelink_lowpower_f3_sdk_9_11_00_18\source\ti\ble\host\gapbondmgr\gapbondmgr.h 文件中读取该错误：

/**
 * @fn      GapBondMgr_readBondFromNV
 *
 * @brief   Read bond record from NV
 *
 * @param   mode - whether to read by index (GAPBOND_READ_BY_IDX) or by address (GAPBOND_READ_BY_ADDR)
 * @param   pIdentifier - pointer to bond index (0 - GAP_BONDINGS_MAX) or device address (6 bytes BDADDR)
 * @param   addrType - address type, only relevant if mode = GAPBOND_READ_BY_ADDR
 * @output  pBondRecord - pointer to output, must be allocated by the caller
 *
 * @return  SUCCESS if bond was read successfully
 *          bleGAPNotFound if there is no bond record
 *          bleInvalidRange if the bond index is out of range or the mode is invalid
 *          bleGAPBondItemNotFound if an item is not found in NV
 */

因此、您可以从索引或从绑定的设备的地址中选择绑定。

我认为我们不支持任何在 NVS 中检测腐败的功能。 您能否详细介绍一下 NVS 腐败的威胁模型或使用案例？

此致、
Lea

您好、Maxence、

这里的用例是钥匙扣、从之前基于 CC26xx 的开发经验中、我们观察到 NVS 损坏问题和债券信息丢失。 为了降低在低电压条件下发生意外复位的风险、我们实现了电池电压监控。 我们还在评估保护 NVS 完整性和保留绑定信息的策略。 您能否提出一些在预防 NVS 腐败和债券损失方面所看到的有效措施或最佳做法？

此致

Vaibhav

您好！

如果在 NVS 写入过程中发生 NVS 写入、则可能会在断电时发生 NVS 损坏。 但我们不知道任何 NVS 损坏问题时,失去电源和不使用 NVS,或当失去电源和做 NVS 读取。

为了 100%确保 NVS 写入正确并且不会破坏任何内容、您可以 在 NVS_WRITE 函数的参数中设置 NVS_WRITE_POS_VERIFY 标志。 该标志在 NVS 写入之后添加 NVS 读取、以确保写入正确。

您的代码如下所示：

if (NVS_write(nvsHandle, (uint32_t)FLASH_ADDRESS(page, offset), pBuf, len, NVS_WRITE_POST_VERIFY) != NVS_STATUS_SUCCESS) 
{
    // Handle write failure
    // Log or implement error handling
    NVS_close(nvsHandle);
    return;
}

// Continue code

此致、
Lea