Other Parts Discussed in Thread: CC2340R5, CC1352P7
器件型号: CC2340R5
主题中讨论的其他器件: CC1352P7
尊敬的 TI 团队:
我们正在进行生产线测试设置、以测量 CC2340R5 芯片组的频率偏移和漂移。 目标是捕获每个数据包的频率偏移、以评估制造过程中的晶体精度和器件间的漂移。
我们感谢 TI 在以下方面提供指导:
支持的读取每个数据包频率偏移的方法
是否有支持的 BLE 堆栈 API、射频内核统计数据或 HCI 命令来在 CC2340R5 上公开 RX 频率偏移 (CFO)?
可以通过射频内核命令(例如 RX 统计信息或覆盖)而不是高级 BLE 栈来访问该信息吗?
是否推荐将 CC13xx/CC26xx 器件用作频率偏移检测器来进行 CC2340R5 生产测试?
是否有演示频率偏移或晶体精度测量的现有应用手册、示例或参考设计?
CC2340R5 是否提供任何内部测量或测试模式来报告其自身的频率偏移?
我们的目标是可靠捕获数据包级频率偏移值、以评估漂移并确保制造过程中的合规性。 任何建议的最佳做法或实施细节都将非常有帮助。
谢谢您、
Vignesh。