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[参考译文] CC2340R5:测量生产中 CC2340R5 的频率偏移 (BLE)

Guru**** 2763595 points

Other Parts Discussed in Thread: CC2340R5, CC1352P7

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/bluetooth-group/bluetooth/f/bluetooth-forum/1604557/cc2340r5-measuring-frequency-offset-of-cc2340r5-in-production-ble

器件型号: CC2340R5
主题中讨论的其他器件: CC1352P7

尊敬的 TI 团队:

我们正在进行生产线测试设置、以测量 CC2340R5 芯片组的频率偏移和漂移。 目标是捕获每个数据包的频率偏移、以评估制造过程中的晶体精度和器件间的漂移。

我们感谢 TI 在以下方面提供指导:

支持的读取每个数据包频率偏移的方法

是否有支持的 BLE 堆栈 API、射频内核统计数据或 HCI 命令来在 CC2340R5 上公开 RX 频率偏移 (CFO)?

可以通过射频内核命令(例如 RX 统计信息或覆盖)而不是高级 BLE 栈来访问该信息吗?

是否推荐将 CC13xx/CC26xx 器件用作频率偏移检测器来进行 CC2340R5 生产测试?

是否有演示频率偏移或晶体精度测量的现有应用手册、示例或参考设计?

CC2340R5 是否提供任何内部测量或测试模式来报告其自身的频率偏移?

我们的目标是可靠捕获数据包级频率偏移值、以评估漂移并确保制造过程中的合规性。 任何建议的最佳做法或实施细节都将非常有帮助。

谢谢您、

Vignesh。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!


    CC2340R5 使用两个时钟、即低频时钟和高频时钟。 您可以选择让两个时钟都使用电路板上的外部晶体。 如果您希望测试晶体的频率偏移和漂移、可以使用任何可用的方法(如与更准确的时钟进行比较)独立于 CC2340R5 执行该测试。


    本文档的第 6.4 章 提到以下内容:“测量 HF 晶体振荡器精度的最佳方法是根据输出解调的载波
    使用频谱分析仪测量无线电相对于所需频率的频率偏移。 晶体频率的相对偏移量(通常以百万分率 (ppm) 表示)与射频载波的相对偏移量相同。 您可以使用 BTool 通过调用 HCI BTool Ext_Modem TestTxCmd 函数来运行此类测试(请参阅此文档,了解如何执行 TX 和 RX 测试)


    BLE 规范未指定任何可以测量 RX 频率偏移的 API 或 HCI 功能、但它们指定了 直接测试模式 (DTM) 、可帮助您运行所需的测试。 例如、之前给出的 HCI 命令是蓝牙 DTM 的一部分。

    我希望这是足够的重新来源和指示,让您开始您的生产线测试. 如果没有、请随时回复此主题。

    此致、
    Lea

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Lea:

    我们知道、可以使用频谱分析仪测量 CC2340R5 的频率偏移和漂移。 但是、对于我们的产品线测试、我们需要一种解决方案来获取 TX 器件 (CC2340R5) 的频率偏移值、而无需使用外部射频测试设备。

    我们注意到、CC1352P7 器件具有类似的频率偏移测量功能。 在此基础上、我们想澄清以下内容:

    是否可以测量和检索 CC2340R5 RX 侧的频率偏移、与 CC1352P7 上支持的偏移类似?

    CC2340R5 上是否有任何暴露 RX 数据包频率偏移的 BLE 堆栈 API、射频内核命令或寄存器级 (ReadRfregFreqOffset) 机制?

    //! \addtogroup CMD_READ_RFREG
    //! @{
    #define CMD_READ_RFREG 0x0601
    //! Read RF Core Hardware Register
    struct __RFC_STRUCT rfc_CMD_READ_RFREG_s {
    uint16_t commandNo; //!< The command ID number 0x0601
    uint16_t address; //!< The offset from the start of the RF core HW register bank (0x40040000)
    uint32_t value; //!< Returned value of the register
    } __RFC_STRUCT_ATTR;
    
    void ReadRfregFreqOffset(void)
    {
      RF_cmdReadRfregFreqOffset.commandNo = CMD_READ_RFREG;
      RF_cmdReadRfregFreqOffset.address = 0x51C0;
      RF_cmdReadRfregFreqOffset.value = 0;
    
      RF_runImmediateCmd(rfHandle, (uint32_t*)&RF_cmdReadRfregFreqOffset);
    
      temp_rfo = (int8_t)RF_cmdReadRfregFreqOffset.value;
    
      Receive_Freq_Offset_Sample = temp_rfo * 25000 / 64;
    }

    跨设备测量选项:-

    如果 CC2340R5 不支持 RX 侧测量、则从 CC2340R5 发送 BLE 数据包并在 CC1352P7 (ReadRfregFreqOffset) 上接收这些数据包是否可行、然后在寄存器或射频内核级别从 CC1352P7 中提取 RX 数据包的频率偏移值?

    如果是、您能否给出建议的配置(BLE 模式与专有 RX,相关射频统计信息或射频覆盖)?

    注意:
    我们的要求是在不使用频谱分析仪的情况下执行频率偏移测量、并直接从器件获取偏移值(寄存器级访问或射频内核级访问)。

    谢谢、

    Vignesh。

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    您好!

    搜索后、我找不到任何允许您以与在 CC1352P7 上相同的方式访问 CC2340R5 上射频内核的内容。 您是正确的、您可以使用 btool 和 HCI 命令要求受测的 CC2340R5 使用发送多个 TX 数据包进行跨器件测量、 CC1352P7 将使用 btool 和 HCI Ext_Modem TestRxCmd HCI 命令接收这些数据包。 然后、每次完成 RX 测试后、CC1352P7 都可以读取射频内核并获得通常需要的频率偏移。

    您可以在 用户指南的这一章中了解如何为 CC2340R5 和 C1352P7 运行这些 HCI 命令

    此致、
    Lea