[参考译文] CC2650：无来自 DCDCDCDC_SW 的输出

您好，

您是否能够在实验室中重现故障而不接触32 kHz 晶体？ 对晶体进行搅打是一种 Surrefire 方法，可以让您的设备意外运行，因为它们对静电释放非常敏感，但这并不能为我们提供关于为何您丢失 DCDCDC_SW 电压的详细信息。 我认为加热和冷却芯片是一个良好的开端， 但我不知道通过将其浸入中可以获得多少成果。 也许您可以详细阐述您的设备是什么以及设备是什么，这样我们就可以制定一种人为地加快设备老化速度的策略(如果设备每分钟广播一次，我们可以让它每分钟广播100次...等等)。 听起来如何？

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不会

您好 Nathan，

感谢您的回答。  

在实验室中，我们直到现在才能够重现该问题。 我们已将5个单位的广告间隔提高到每秒8次。 他们都在工作。 多氯联苯是分批生产的， 有些批次似乎比其他批次更敏感，但所有这些都表明存在这一问题。 使用的 LF 晶体是 ：带有负载电容器 CC0402JRNPO9BN120的 CM315D32768DZCT。  这就是设计的外观：

您好，

我注意到您丢失 了 BLM18HE152SN1，这是一种铁氧体磁珠，我们通常与 VDDS 串联放置以限制 EMI。 您可以在此处的 CC2650 5x5参考设计中看到它。

https://www.ti.com/lit/zip/swrc299

虽然我无法保证这会导致您的问题，但最好将其排除为潜在问题。  

此外，您认为问题与 LF 晶体有关是否还有其他原因？ 即使您使用了一个正常工作的 LF 晶体并开始触摸/探测它，您也可能会导致问题，这就是为什么我不太确定问题与它相关的原因。

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不会

您好，

我应该也在前面的评论中提到电源滤波器原理图。 使用的电路如下所示：

我们一直在向低频晶体方向搜索的原因是，这是我们唯一可以重现该问题的方法。 我们已经阅读了勘误表，但没有任何内容会导致我们遇到的问题。  

PCB 的外观如下：

巴西，

感谢您拍摄这些照片。 当您弄乱 LF 晶体时，您可以让系统挂起。 在 DCDCDC_SW 线路上断电时，它是否表现出相同的行为？ 或者它只是一般停止工作？ 因为根据你告诉我的情况，听起来你可能不会通过与低频晶体混淆来触发同一个问题。 相反，您可能会导致另一个问题。 是否可以确认发生相同的电压损失？

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不会

您好，Nathan，

我们 可以确认这是相同的电压损耗。 我刚刚在接触 LF 晶体时测量了 DCDCDC_SW 电压。 首先，我注意到电压大幅下降到大约0.6 - 0.7伏，然后下降得更慢。

这项测试确实不能代表设备的使用方式，因为它们位于塑料外壳中。

我们还对坐在外壳中的“反射式”设备进行了一些基本跌落测试。  在这些问题上，我们都无法再现这一问题。 我们希望看到蓄电池的短断开可能导致 DCDC_SW 电压停止生成。

此外，我们尝试对电池短路，但在取下短路后，设备仍能正常工作。

此致，

我们发现的另一件事是 当重置针脚发生短路时系统重启。 当然，这比在电池侧执行操作更安全。 因此，我们可能会找一位具有开路漏极输出的 DCDCDC_SW 电压的电压主管。 也许这能让您更深入地了解内部情况？

巴西，

我们还检查了固件并确认这些设置存在：

•  选择了间壁(而不是内部 RC 振荡器)

•  Aon_sysctl：RESETCTL：VDDS_Loss _EN = 1→控制在 VDDS 丢失的情况下重置生成

•  Aon_sysctl：RESETCTL：CLK_LLOG_EN = 1→控制在 SCLK_LF 丢失的情况下重置生成。

您好，

我认为您在 DCDCDC_SW 系列中担任电压主管的想法是可行的，但我认为这可能是解决一个更基本问题的变通办法。 在回来后无法正常工作的设备(而不是您尝试通过触摸晶体重现问题的设备)上，您可以探测其它线路吗？ 您说 VDDS 为3V。  您可以使用屏幕截图再次检查吗？

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不会