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部件号:CC2540T TI能否提供测试统计数据,帮助我们估计在温度规范(125C)之外工作时可能出现的故障率?
我们有一种低容量应用,环境温度可在有限的时间内超过125C。 CC2540T的初始样品来自单个生产批次,在我们的测试配置文件中仍可运行。
来自更大样品集的统计信息将帮助我们评估在应用中使用此芯片的可行性。
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