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器件型号：CC2564CSTBTBLESW 主题中讨论的其他器件：CC2564
尊敬的 TI 团队：
我们开发了一款 BT+ BLE 双模器件。 我们现在将投入生产。 我们希望在交付器件之前进行一些量产线测试和器件射频校准。
生产部门建议的一项强制性测试(TX 和 RX 除外)是射频校准测试。
在这里、它们需要获取器件的频率偏移、相对于测量的偏移、需要将新值写入 HW 以进行频率校正。
如果我们不执行该过程、则 Production House 不会为器件的射频性能提供任何保证。
为了澄清这一问题，我附上了以下 Production House 的答复。
"频率校正是蓝牙耳机的正常校准。 因为晶体和寄生电容的参数在每个 PCB 之间稍有不同。 请咨询芯片组制造商、他们应提供相关工具或命令来执行此操作"
TI 是否有任何工具或特定于供应商的命令来实现这一目的？ 我找不到这方面的任何东西。
此致、
VishnuPrasad
