[参考译文] LAUNCHXL-CC2640R2：直接测试模式故障？

尊敬的 Kel：

输出功率看起来非常低、您是如何将电路板连接到仪器的？ 您运行的是什么硬件？

此致、
Fredrik

您好、Fredrik、

我的设置是 CC2640R2F Launchpad、其跳线仅为3.3V 和 GND、并通过连接到我的笔记本电脑的 USB 电缆供电。 UART 引脚2和3连接到 RS232板、然后连接到 Anritsu BLE 测试仪。

－克尔

您好、Fredrik、

有一根有线天线连接到 Anritsu BLE 测试仪、然后是我放置在 CC2640R2F Launchpad 旁边的天线末端。

－克尔

Kel、

您是否考虑了天线之间辐射耦合的损耗？ 我强烈建议使用同轴电缆连接仪器。

谢谢、
Fredrik

您好、Fredrik、

   我使用的是连接到 Anritsu BLE 测试仪的同轴电缆。 请参阅下面的我的 Anritsu BLE 测试仪设置。 TI BLE 团队是否已使用 Anritsu BLE 测试仪测试了 TI CC2640R2F Launchpad？ 如果是、您是否获得了更好的测试结果？

－克尔

尊敬的 Kel：

我的意思是、您应该将同轴电缆连接到 LaunchPad 上的射频连接器。 当您像使用天线一样使用天线时、传输会有很大的损耗。 如果没有适当考虑、这当然会很容易影响灵敏度测试。

我们已经使用多个不同的 R&S 蓝牙 PHY 测试仪测试了 LaunchPad、并且 CC2640R2F (QDID 94956)的射频 PHY 认证已在 LaunchPad 上完成。

Fredrik

您好、Fredrik、

现在、我使用 CC2640R2F Launchpad 评估 DTM。 但是、稍后我需要对我们实际基于 CC2640R2F 且没有射频连接器的产品执行 DTM 操作。

从 Anritsu BLE 灵敏度测试中可以看到、结果是100%故障。 天线就在 CC2640R2F Launchpad 旁边、至少应该有一些灵敏度。

－克尔

尊敬的 Kel：

这取决于您将测试限制设置为什么以及损耗是多少。 请注意、BT PHY"灵敏度"测试并不真正测量实际的灵敏度。 它仅检查特定级别的接收情况。

Fredrik

您好、Fredrik、

  你是对的。 我将 BLE 灵敏度条件的数据包数量从1000更改为1500、结果会更好。 我们已将同轴电缆连接到电路板的射频、目前正在进行测试。 我对此还有其他问题、请参阅下文。

1. 如果我使用 SDK v1.30 BLE 4.2和 SDK v.5.2BLE 5.0中的主机测试示例程序、BLE 测试结果是否有差异？
2. 支持 BLE 4.2的 Anritsu BLE 测试仪是否适合用于测试具有简单外设 BLE 5.0的 CC2640R2 Launchpad 等。 我之所以提出这一问题、是因为我们确实未通过使用 Anritsu BLE 测试仪进行的 BLE 灵敏度测试。
3. 正如您所说的"BT PHY 灵敏度测试并不真正测量实际灵敏度"、那么测量实际灵敏度的方法或过程是什么？

－克尔

您好、Fredrik、

感谢您的所有有用回复。

将 Anritsu BLE 测试仪同轴电缆天线连接到 CC2640R2F Launchpad 后、我们获得了更好的灵敏度结果。

对于我们的 CC2640R2F 5xD 板、灵敏度会失败、因为我们的电路板设计基于 TI CC2640R2F Launchpad、即"射频差分内部偏置"。 但是、我们使用5XD 板级配置文件。 在5xD 电路板文件 CC2650EM_5XD 中定义、因此将其设置为"RF 差分外部偏置"。

在我们注释 CC2650EM_5XD define 并在5XD 板上添加 CC2650EM_7ID define 后、我们的 CC2640R2F 5XD 板现在通过了 Anritsu BLE 测试仪灵敏度测试。

//#define CC2650EM_5XD
#define CC2650EM_7ID

－克尔

尊敬的 Kel：

听得好。

我们的 EVM 名称是封装和射频前端的组合说明 5XD = 5x5、外部偏置、差分射频。 此处介绍了射频前端： processors.wiki.ti.com/.../CC26xx_HW_training_RF_Frontends_and_Antennas.pdf

因此、说您有一个具有内部偏置的"5XD 板"有点矛盾。 如您所见，在硬件配置中不实际设置外部偏置将不起作用:-)然而，使用 CC2650EM_7ID 定义是完全正确的，因为它不依赖于 QFN 封装尺寸。

谢谢、
Fredrik

您好 Fredrik

   我们的 CC2640R2F 板基于 CC2640R2F Launchpad。 因此、它应该具有射频差分内部偏置支持。 我们将 CC2640R2F 7x7替换为 CC2640R2F 5x5。

   我们使用适用于 CC2640R2F Launchpad 的简单外设开始固件开发、该外设使用 CC2640R2F Launchpad 板级配置文件。 在 CC2640R2_LAUNCHXL.h 上、定义如下

#define CC2650EM_7ID

在 ble_user_config.h 上 、RF_FE_MODE_AND_BIAS 将设置为射频差分内部偏置

#if defined (CC2650EM_7ID)

#define RF_FE_MODE_AND_BIAS (RF_FE_DIFFICAL | \
RF_FE_INT_BIAS) 

   但是、由于我们使用 CC2640R2F 5x5、我认为使用 CC2640R2DK_5XD 板级配置文件是正确的。 在 CC2640R2DK_5XD.h 上、定义如下。

#define CC2650EM_5XD

在 ble_user_config.h 上 、RF_FE_MODE_AND_BIAS 将设置为 RF 差分外部偏置

#elif defined (CC2650EM_5XD)|| Defined (CC2650EM_4xD)|| Defined (CC2650M5A)

#define RF_FE_MODE_AND_BIAS (RF_FE_DIFFICAL | \
RF_FE_EXT_BIAS) 

   当 我们的 CC2640R2F 板为射频差分内部偏置时、通过将 RF_FE_MODE_AND_BIAS 设置为射频差分外部偏置来导致 Anritsu BLE 灵敏度故障。

   当 我们的 CC2640R2F 板为射频差分内部偏置时、会通过将 RF_FE_MODE_AND_BIAS 设置为射频差分内部偏置来导致 Anritsu BLE 灵敏度传递。

   下面是 Anritsu BLE 灵敏度通过结果。 使用 host_test 的测试结果与使用 SDK v1.30和 SDK v.5.2的测试结果有所不同。 SDK V1.35中的 host_test 具有较高的错误百分比。 我怀疑这是因为 Anritsu BLE 测试仪不支持 BLE 5。

   使用 SDK v1.30中的 host_test 的 Anritsu BLE 灵敏度传递结果：

   使用 SDK v1.35中的 host_test 的 Anritsu BLE 灵敏度传递结果：

－克尔