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器件型号：CC2650 我正在使用 SmartRF06评估板(德州仪器(TI)的 XDS 100v3 USB 调试探针)。
有一段时间以来、我一直在对定制板(包含 cc2650)使用相同的配置、但存在一些零星的错误(通常是自身附近的电缆断裂)。 但是今天、相同的配置开始产生另一组问题、我将在这里复制。
Cortex_M3_0：错误：(错误-1170 @ 0x0)无法访问 DAP。 复位器件、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板执行下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、降低 TCLK)。 (仿真软件包9.11.0.00128)
Cortex_M3_0：停止目标 CPU 时出现问题：(错误-2064 @ 0x0)无法读取器件状态。 复位器件、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板执行下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、降低 TCLK)。 (仿真软件包9.11.0.00128)
Cortex_M3_0：JTAG 通信错误：(错误-1170 @ 0x0)无法访问 DAP。 复位器件、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板执行下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、降低 TCLK)。 (仿真软件包9.11.0.00128)
我尝试了几乎所有的功能：
- 测试配置始终会成功
- 我尝试了不同的定制电路板、将开发板与定制电路板之间的电缆缠绕在一起、并在 targetConfig 中降低频率(从10.o0MHz 降至7.14MHz)
在最新运行(使用不同(新)电缆)中、错误代码不同：
IcePick_C：连接到目标时出错：(错误-621 @ 0x0) DTS 寄存器值读取失败、原因未知。 (仿真软件包9.11.0.00128)
我仍然无法刷写器件、我的结论是 SmartRF06评估板可能已损坏(我不知道如何操作)。
我们非常感谢任何可以帮助我解决问题的建议。
