您好!
我们的功能设计具有坚实的业绩-超过400个装置在现场工作没有问题。 最新一批 PCBA 在保持蓝牙连接方面存在问题。 当我使用 XDS110在调试模式下运行项目代码时、蓝牙连接是完全稳定的、从不会掉线。 但在断开调试器的连接并对电路板进行下电上电后(未重新闪烁)、蓝牙连接变得非常不稳定、有时根本无法连接。
什么原因可能导致在通过 JTAG 在调试模式(使用 CCS v10)下运行与从内部闪存进行标准启动时出现这种行为差异?
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我们的功能设计具有坚实的业绩-超过400个装置在现场工作没有问题。 最新一批 PCBA 在保持蓝牙连接方面存在问题。 当我使用 XDS110在调试模式下运行项目代码时、蓝牙连接是完全稳定的、从不会掉线。 但在断开调试器的连接并对电路板进行下电上电后(未重新闪烁)、蓝牙连接变得非常不稳定、有时根本无法连接。
什么原因可能导致在通过 JTAG 在调试模式(使用 CCS v10)下运行与从内部闪存进行标准启动时出现这种行为差异?
您好!
感谢您与我们联系。
对您问题的描述让我觉得低频(32kHz)晶体振荡器有问题。 我之所以提出这种建议、是因为在调试模式下运行时会阻止器件进入低功耗模式、并且所有时序都是根据高频(48MHz)晶体振荡器进行计算的。 为了进一步研究这种可能性、您可以考虑采用一些蓝牙监听器日志跟踪(并查看您是否错过了异常连接事件)、也可以考虑启用射频调试信号(请参阅此处 https://dev.ti.com/tirex/content/simplelink_cc2640r2_sdk_5_30_00_03/docs/blestack/ble_user_guide/html/ble-stack-3.x-guide/debugging-index.html#debugging-rf-output)、并查看时序是否正确。
我希望这将有所帮助、
此致、
谢谢! 你的直觉很好,我甚至没有提供这么多的信息。 事实证明、问题不是振荡器、而是电源管理器。 调试模式的原因"固定"正如您所说的-它阻止了器件进入低功耗模式。 我们的项目使用 TI-RTOS、且使用的是默认电源策略、我认为这种策略偏向于节能而非性能。 我已将 XDS110调试器连接到电路板、并且仅加载了符号。 连接后、我暂停了程序执行、注意到每次程序执行时总是在一条 WFI 指令上。 这就是导致我陷入低功耗模式问题的原因。
我 在我们的应用程序中向 Power_disablePolicy ()添加了一个调用,现在一切都按预期运行。 下面是供以后阅读此主题的任何人使用的 TI-RTOS 电源管理器参考: https://www.ti.com/lit/pdf/SPRUI18C
剩下的唯一问题是、为什么不同数量的 MCU 上的电源管理器的行为不同? 我们已经使用默认策略运行了很多年、以前从未看到过此问题、突然间它影响到每个电路板。