[参考译文] CC2340R5：使用 SWD 连接读取 MAC 地址

您好 Jan：

感谢您的快速响应！ ：)

我们打算在芯片位于生产线上时读取 MAC 地址。 之后、我们计划使用 SWDIO、SWDCK 和 nReset 引脚通过 SWD 连接将固件刷写到芯片中。

根据技术参考手册中描述的闪存编程流程、固件刷写实现已完成。

目前、我们正在执行以下步骤：

1)将传感器从休眠模式转换到 SWD 模式。
2)建立 SWD 连接并读取调试端口寄存器 IDCODE。
3) 3)使用 SACI 闪存编程命令对固件进行编程。

据我所理解、使用 Uniflash 功能似乎是一个好主意、在建立 SWD 连接后立即访问 MEM-AP 并读取为 MAC 地址保留的存储器。 此后、继续固件编程。

您是否有其他建议或步骤可以帮助我们实现这一点？

感谢您的帮助！

此致、
Eduardo

Eduardo、您好！

我想您已经阅读了用户指南中的" 通过 UniFlash 读取 CC2340R5 MAC 地址"一节。 我还建议阅读以下部分： 在 BLE5-Stack 应用中使用器件地址 ( 在 BLE5-Stack 中配置本地器件地址 )以查看这是否也有用。

BR、

David。

David、您好！

感谢您的答复。

我已经复查了有关通过 Uniflash 读取 MAC 地址的指南。

我们现在已使用标准 ARM DAP 访问部分实施此过程、但目前该过程非常慢。 我的当前方法涉及对器件进行编程和重置后的以下步骤：

1. SWD -使用标准 Re 连接序列建立 SWD 连接。
2. 选择 APSEL = 0x0以访问 AHB-AP。
3. 读取地址0x40000034 (返回预期值0xC2)处的 TAR 寄存器–不过、不确定这为什么有必要。
4. 读取地址0x4E000058和0x4E00005C 处的 TAR 寄存器以检索 MAC 地址。

请注意、这些步骤与我在初始帖子中附加的图像非常接近、主要区别在于直接访问 MAC 地址寄存器、而不是从0x4E000000开始读取整个存储器块。

但是、我遇到了一个问题、即来自寄存器访问的有效响应需要实施重试例程、且重新发送读取请求的次数最多可达80次。 这显著减慢了这一进程。

您能否建议是否可向芯片发出特定命令或序列以实现对 AHB-AP 的更高效和直接访问、从而减少对大量重试的需求？

此致、

Eduardo

我忘记提的事情。

我注意到、MAC 地址(或任何 AHB 寄存器)仅在主扇区和 CCFG 扇区都完成编程后返回有效值。 如果未对这些扇区进行编程、则任何访问 MEM-AP 的操作均不返回任何结果。

这可以防止我在建立 SWD 连接后立即读取 MAC 地址、正如我最初打算的那样。 相反、我只能在完整编程过程后执行此步骤。 我们计划在整个过程中使用 MAC 地址实现可追溯性、因此在连接后立即访问 ID 是我们的理想方案。

能否 就空白或未编程的器件为何无法访问 AHB-AP 寄存器提供任何见解或建议？