[参考译文] CC2640R2F：闪存损坏

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/bluetooth-group/bluetooth/f/bluetooth-forum/1460540/cc2640r2f-flash-corruption

工具与软件：

您好！

目前使用的是 CC2640R2F Simple Central 项目。 其中存储器损坏、并且有时我们看到完整的第30页中充满了0xFF 数据。

重现闪存问题的测试用例(如上所述)：

成功连接并保存绑定后、我们要将数据从中央设备传输到外设、这时我们要断开模块(中央设备)的电源、只断开 VCC 而不是 GND 与电源的连接。

#define AT_PARAM_ADDR  0x1E000
#define AT_PARAM_PAGE  30

void read_flash_parameter(void)
{
	HalFlashRead(AT_PARAM_PAGE, 0, (uint8_t*) &RamFlashData, sizeof(RamFlashData));
}

void write_flash_parameter(void)
{
	HalFlashErase(AT_PARAM_PAGE);
	HalFlashWrite(AT_PARAM_ADDR, (uint8_t*) &RamFlashData, sizeof(RamFlashData));
}

在这里,我已经在第30页上附加了一个损坏和非损坏的闪存的图像。

我们将附加中央和外设二进制文件供您参考。  我们将 如何进行读写操作的代码附加到闪存上。

*注意*

我们在发送数据或连接时没有访问闪存。

在应用中、我们将根据 GPIO 输入采取操作。

未在中央代码上初始化 UART。

工具和 SDK 两者的详细信息：

SDK：simplelink_cc2640r2_sdk_4_40_00_10

CCS：CCS 9.1.0

硬件详细信息中心 设备：

GPIO 详细信息：

GPIO 1 = DIO27 (作为输入)。

GPIO 2 = DIO26 (作为输入)

GPIO 3 = DIO25 (作为输入)

GPIO 4 = DIO24 (作为输出)

引导引脚：

GPIO = DIO7 (高电平；正常运行)

硬件详细信息外围 器件：

引导引脚：

GPIO = DIO7 (低电平；正常运行)

UART 引脚：

GPIO = DIO2 (RX)

GPIO = DIO3 (TX)

e2e.ti.com/.../FILES.rar

根据我们的电流分析和结果、闪存数据在上电/断电测试期间损坏。 它很容易重现。 我们需要在任何意外情况下保护闪存内容、并且需要立即作出响应。  

谢谢。