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[参考译文] TMS320F28P650DK：功能安全认证

admin
Guru**** 2810285 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1584129/tms320f28p650dk-functional-safety-certification

器件型号： TMS320F28P650DK

我想问一下、在开发阶段、我们在 CCS 中使用.syscfg 生成代码。 目前、在代码静态测试中、存在许多不合规错误（标准是 MISRA-C-2012）。 TI 是否有任何文档证明该代码符合标准？  

2.我们还需要执行故障注入测试。 对于将故障注入 RAM 和闪存中的情况、是否有专用工具（例如，ST 提供了 ST CRC 工具）、因为仅修改代码中的故障注入变量无法满足故障注入要求。

谢谢！

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    TI__Guru**** 2810285 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Hui：

    对于 1、我将与我们的软件团队核实并返回给您。

    对于 2、我们通过注入故障来提供 RAM 和闪存 ECC/奇偶校验测试。 SDL 中的示例程序作为“sdl_ex_flash_ecc_test"和“和“sdl_ex_ram_ecc_parity_test"提供“提供。

    Han

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    TI__Guru**** 2810285 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好：

     2、此外、我们想确认我们的故障注入测试是通过修改代码中的全局变量或宏定义来实现、还是使用其他软件来完成。 我们想看看是否可以实现以下效果：在程序执行期间、使用软件工具修改 RAM 或闪存中的数据、检查 STL 是否可以检测到故障。

    此致、

    Hui

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    TI__Guru**** 2810285 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Hui：

    故障注入基于一项特性、可在不更改主 RAM 块内容的情况下独立编辑 ECC 内容。

    Han