各位专家、您好!
我的客户基于两个 F28377S (更具体地说是 F28377SZWTQ YFC-09A26SW)对其控制板进行了高温/低温测试。 它们具有以下结果:
水平轴表示测试指数(或时间范围)。 左侧垂直轴表示电压(在模拟前端电路和软件后处理之后、4V 表示 ADC 通道输入为0.96V)。 右侧 垂直轴表示 温度。 另一方面、ADC 基准为3V。
如您所见、当温度变为75°C (约98 ADC LSB)时、ADC 值会有很大变化。 奇怪的是、两个芯片(具有相同的器件型号)具有不同的变化。 但它们位于同一电路板中且处于相同的温度条件下。 我认为它不是由不同的 CPU/外设负载引起的、如果是、请纠正。
另一方面、芯片从闪存模式引导、因此在引导固件中执行 Device_cal 函数。
那么、我和我的客户想要知道这 种现象发生的原因、以及 如何比调用 Device_cal 更好地补偿这种变化? 感谢你的帮助。
此致、
将会
