您好!
当噪声测试中发生故障时、即使 MCU 的 RESET 引脚从外部设置为低电平以从外部恢复、也无法复位 MCU。
如果它正常(在它因噪声而发生故障之前)、可通过将 RESET 引脚复位为低电平来重新启动它。
在 MCU 发生故障的不太可能的情况下、有必要针对只能通过再次开启电源恢复的状态采取对策。
请就如何执行此操作向我提供一些建议吗?
谢谢、
Astro
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您好!
当噪声测试中发生故障时、即使 MCU 的 RESET 引脚从外部设置为低电平以从外部恢复、也无法复位 MCU。
如果它正常(在它因噪声而发生故障之前)、可通过将 RESET 引脚复位为低电平来重新启动它。
在 MCU 发生故障的不太可能的情况下、有必要针对只能通过再次开启电源恢复的状态采取对策。
请就如何执行此操作向我提供一些建议吗?
谢谢、
Astro
Astro、
如果 C2000只能在下电上电后恢复、而不能在 XRSn 事件下恢复、那么我认为我们可能已将器件锁存到不良状态。 这将由一个或多个 C2000器件引脚上的过压事件引起。 您是否认为/或已经捕获到噪声耦合到 C2000、从而将引脚驱动到 VDDIO +0.7V 或更高?
另一种选择是噪声耦合到 JTAG 引脚并导致器件进入边界扫描模式。 我认为 XRSn 应该恢复这种情况、但需要进行检查。 您能否监控系统中的 JTAG 引脚并注意它们是否会出现过量噪声? 此处的补救方法是增加 TRSTn 上的 PD 强度。
您能评论一下噪声事件发生后器件的行为吗? 它是否显示为"死区"或是否存在一些引脚活动?
最棒的
Matthew
Astro、
如果我们锁存了器件、从器件可靠性的角度来看、我更关注这一点、因为这意味着引脚上存在过压/欠压事件、或者在运行期间丢失了电源轨。
对于示波器/DMM、您有没有观察到您的系统中是否发生过这种情况与耦合噪声比较?
对于噪声影响、我们可以考虑提高电源轨上的衰减以及增加 JTAG 引脚上的拉电阻器的强度。 为了获得最大的效果/好处、衰减电阻和拉电阻应尽可能靠近器件引脚放置、这一点也很重要。 如果无源器件在电路板上的物理位置较远、则噪声会耦合到引脚/信号布线上。
但是、我想再次强调、如果您的器件无法通过 XRSn 切换恢复、这不是由于 JTAG 上的一些噪声。 还有一些 ESD 屏蔽材料、我们可以以机械方式应用于器件区域、但我认为如果我们锁存了器件、我们不会处理耦合问题、而是信号/引脚本身上的事件。
请告诉我上述内容是否合理。 底线是、我们需要确定这种过压/欠压事件的根本原因/根源、以便更好地了解如何缓解这种情况。
最棒的
Matthew