[参考译文] TMS320F28034：有关 March Test 的问题

[~ userid="306637" url="支持/microset/C2000-microset-group/C2000/f/C2000-microset-forum/1116680/tms320f28034-question-about-March 测试"]STL_March TEST_testRam 如何在 RAM 上执行 March 测试？  它是4 x 4字节测试吗？[/quot]

存储器以32位字的增量进行遍历。 就伪代码而言、它看起来像这样-

1.用 μ~模式填充存储器

升序_测试：
2.读取32位字
3.与~模式比较，如果不相等则退出
4.将模式写入32位字
5.读取32位字
6.与模式比较，如果不相等则退出
7、递增32位字的地址

8.对所有32位字重复2-7

9.再次重复2-8次，但步骤2-3将使用模式，步骤4-6将使用~模式

(请注意、这一点、我们指的是存储器范围的最后一个地址、而存储器包含 μ~模式)

降序测试：
10、读取32位字
11.与~模式比较，如果不相等则退出
12.将模式写入32位字
13.读取32位字
14.比较模式，如果不相等则退出
15、递减32位字的地址

16。对所有32位字重复10-15

17.再次重复10-16、但步骤10-11将使用图形、步骤12-14将使用~图形

[引用 userid="306637" URL"~/support/microrims/C2000-microset-group/C2000/f/C2000-microset-forum/1116680/tms320f28034-question-about-March test "]是否有使用两个独立时钟源交叉检查时钟的例程？

这就是 STL_Oscillator_test 的用途。 由于 CPU 定时器2可被配置为从与 SYSCLK 不同的源运行、它可被用来检查时钟。

惠特尼