[参考译文] TMS320F28377D-Q1：校准期间施加信号

罗纳德

感谢您访问 TI E2E 论坛。

我想首先澄清一些我们在参考手册中使用的术语、以确保我们正在谈论苹果(或像现在一样进行校准！)

对于 F2837x 器件、提到了"工厂校准"和"零偏移校准"

1)工厂校准：对于每个 ADC、我们在生产线上进行测试和"修整"、以便 ADC 符合增益/偏移等方面的数据表规格  我们将这些值存储在 TI OTP 存储器中、并依靠 FW (在 Brom 或用户代码中)将这些值从 OTP 加载到 ADC、以便 ADC 符合规格。

2)零偏移校准： 在上述出厂校准中考虑芯片级偏移校准；我们提供了一个选项、通过对 VREFLO 引脚进行采样并重新调整偏移微调寄存器来进一步校正任何潜在的电路板级偏移。  此修整在模拟域中实现、因此动态范围不会损失、ADC 的采样速度也不会改变(与在数字域中完成的操作相比)。

在您的示例中、您提到了使用已知基准电压来进一步校准 ADC。  假设我们已经完成了零偏移自校准、并且不再存在任何偏移(在对 ADC 传递函数的 y=mx+b 解释中为"b")、这里的目标是减小满量程误差或增益误差(在前面的公式中为"m")。

根据我的了解、无论如何、我们都不会主动支持更改 ANAREF 寄存器值以在模拟领域动态地对 ADC 进行"重新调优"。  因此、我们将寻求校准 C28x (或 CLA)对其进行处理后的任何增益误差、以消除我们在对已知基准电压进行采样时看到的误差。

在您的帖子中提到的情况下、我们实际上更喜欢低于 VREFHI 的电压；如果我们有正增益误差。  这是因为、如果我们采样 VREFHI (等于 ADC 的满量程范围)并且存在正增益误差、我们将使 ADC 结果饱和、无法确定误差。  

在本例中、我们只需将采样该基准电压时的 ADC 结果除以假设没有增益或偏移时应生成的理想代码、即可计算"m"。  一旦我们完成此操作、任何后续 ADC 转换都可以除以该数字、以获得校准版本。

F2811也是如此、 本应用手册有助于解释我上面提到的很多内容。

请记住、F2811没有 F2837x 上存在的动态偏移校正、因此您将在该器件上看到一种2点方法来手动消除偏移误差。

如果您有其他问题、请告诉我。

最棒的

Matthew