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[参考译文] TMS320F28378S:EMI 总线上的串扰

Guru**** 2408940 points
Other Parts Discussed in Thread: TMDSCNCD28379D, C2000WARE

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1000891/tms320f28378s-cross-talk-on-emi-bus

器件型号:TMS320F28378S
主题中讨论的其他器件:TMDSCNCD28379DC2000WARE

您好!

首先、这不是针对指定的 TI 器件型号、但我不知道在其他地方可以提出这个主题问题、因为我似乎无法在其他地方得到答案。

我正在使用包含标准地址、数据和控制信号(WE、OE)的标准外设总线(EMIF)对电路板布局进行后续处理。 我有一个板堆叠、使参考平面比走线低0.1mm。 处理器的上升时间最短为1.5ns。 在查看各种网站上的串扰计算结果时、对于任何超过10毫米的轨迹、我最终得到了疯狂的价值。 对于0.15*Vdd ~0.495V 的芯片组、这些值远高于 V LOW、且轨道分离为1H (0.1mm)、总线的最大布线长度约为70mm。 我获得合理数字的唯一方法是使用4小时间隔。 过去、我一直在路由地址/数据总线时将布线宽度分离为两倍、从未出现任何问题。 我在 YouTube 上开始观看 Eric Bogatin、Rick Harly 和 Robert Feranec 关于受害者迹线和侵略者迹线的几个视频。 这让我重新思考我的地址和数据总线。 但是、在查看布局策略时、对于我看到或做的任何事情、轨道分离都变得不切实际。 所以、这让我需要思考。 串扰是否仅是边沿事件、即仅在信号沿轨迹向下传播时出现在上升沿和下降沿? 我进行了很多搜索,似乎没有讨论过这一点。 因此,我将在这里提出这个问题。

串扰仅是边沿事件还是稳态耦合问题? 我提出的原因是、传统数据总线将首先发送其地址和数据信号、然后在一段时间后提高控制信号线、无论是 WE 还是 OE。 然后在稍后的某个时间、在接收器处读取数据。 如果串扰是边沿事件、而不是稳态、那么这对于我使用的轨迹间距以及我在其他系统上看到的轨迹间距来说是有意义的。 如果串扰是稳定状态、那么在我看来、总线似乎永远不会与我使用或看到的传统轨道分离配合使用。

是否有人对此有更深入的了解? 对于我在微控制器设计中使用的所有并行接口总线、如果 H >=0.1mm、我真的希望保持我的两倍轨道宽度分离、或者实际上只有2H。

另一件让我想起的事情是、如果我在参考平面上的相邻轨道之间创建一个分割、会发生什么情况。 主要是、这可能会破坏耦合场、因为参考平面上的轨迹区域之间不会有基准。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    James、

    你会发现很多有趣的地方! 首先、我应该说我不是专家、但我同意您的分析。 这是一 个不断变化的 di/dt 和 dv/dt 导致串扰、而不是一个稳态事件... 您需要创建一个 E 字段来影响另一条线迹。 此外、我还想补充一点、布线间距、布线宽度、覆铜厚度、电压转换(此处为3.3V)、压摆率、接地返回路径和布线相邻长度等因素都需要考虑。  

    实际上、我们有一个很好的示例、说明 EMIF 硬件和软件用于与 EtherCAT 的 ET1100器件通信。 查看原理图并查看所有内容的布线方式。  https://www.ti.com/tool/TIDM-DELFINO-ETHERCAT 请注意、TMDSCNCD28379D 器 件的原理图位于 C2000Ware 中此处:C:\ti\c2000Ware_3_03_00_00\boards\controlCARDs\TMDSCNCD28379D\R1_3。 遗憾的是、您需要查看光绘文件、因为我们不提供原生 PCB 布局。

    对于 EMIF、我们提供了一份指南 https://www.ti.com/lit/pdf/sprac96 、其中讨论了一些您可能认为有用的硬件设计注意事项。

    此致、
    Cody