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[参考译文] TMS320F28023：TMS320F28023PTT 老化测试失败

admin
Guru**** 2522770 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/964854/tms320f28023-tms320f28023ptt-fail-on-aging-test

器件型号：TMS320F28023

您好、先生、

我的一位光伏逆变器客户使用 TMS320F28023PTT。  当我的客户进行老化测试时、在5分钟到20分钟后、没有 PWM 输出、IO 输出仅显示高电压电平或仅显示低电压电平。  TMS320F28023PTT 看起来像是被锁定。

您能就此问题向我们提供一些建议吗？

此致、

Wenting

  • 0
    TI__Guru**** 2522770 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Wenting、

    在一个电源循环/XRSn 测试后、客户是否尝试通过 JTAG 访问器件？  是否可以连接？

    与 PWM 输出相比、我会看到是否有另一个 GPIO 可在老化测试期间用作监控器。  原因是、如果在老化过程中有另一个元件发生故障(属于控制环路的一部分)、则可能会影响 MCU。

    电源控制系统中的一个常见情况是比较器检测到过压/欠压情况、即触发 PWM 以关闭 FET、直到问题解决为止。  如果某种情况导致了这种情况发生故障、那么 GPIO 将保持这种状态。

    如果我们使用另一个定期调用的 GPIO 进行切换、它将告诉我们 MCU 是否仍在运行。

    最棒的

    Matthew