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[参考译文] TMS320F28374D：闪存和安全

admin
Guru**** 2427060 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/803162/tms320f28374d-flash-and-safety

器件型号：TMS320F28374D

大家好，  

有关闪存，请参阅。  

闪存存储器由 ECC 保护、ECC 在我们的应用程序中的复位和复位时始终启用。

第一个问题是，是否有应用手册或示例能够在 C 代码中显示如何监控 SECDED 逻辑？

               第二个问题是，是否有应用手册或示例 C 代码 能够显示 如何在测试模式下使用 SECDED 逻辑？我想插入并揭示数据和地址中的单一错误。

此致

卡洛

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    TI__Guru**** 2427060 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    卡洛、

    您可以在 www.ti.com/.../C2000-SAFETI-DIAGNOSTICS-LIB 的安全诊断库中找到与 SECDED 相关的示例。
    查看包装中提供的文档、并告知我们您是否有任何具体问题。
    在题为"C2000TmSafeTITmDiagnostic Library for TMS320F2837xD、TMS320F2837xS 和 TMS320F2807x API 用户指南"的文档中搜索 ECC。

    希望您已经查看了 TRM 闪存章节、了解 ECC/ECC 测试模式相关信息。

    谢谢、此致、
    Vamsi

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    TI__Guru**** 2427060 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    卡洛、

    假设您在库中找到了我建议的示例、我将关闭此帖子。
    如果您仍有疑问、请根据需要重新打开该主题或相关主题。

    谢谢、此致、
    Vamsi
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    TI__Guru**** 2427060 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    卡洛、

    根据您的离线电子邮件、您正在查找 RAM ECC 详细信息。

    您可以在 TRM 的第3.11.1.8节"存储器错误检测、校正和错误处理"中找到相同的内容。

    如果您有任何疑问、请查看并告知我们。

    打开一个新的线程、因为这个线程与闪存相关。

    谢谢、此致、

    Vamsi