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[参考译文] TMS320F28069：在闪存编程期间发生复位后、XDS560v2无法访问 F28069

admin
Guru**** 2589245 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/860716/tms320f28069-xds560v2-can-not-access-to-f28069-after-a-reset-occurred-during-flash-programming

器件型号：TMS320F28069

您好、香榭丽舍

客户遇到了以下问题：

在使用 XDS560v2进行闪存编程期间发生外部硬件复位。
之后、CCS 会显示以下错误消息、并且它从不连接到电路板。

连接到目标时出错：
(错误- 180 @ 0x0)
控制器检测到目标功率损耗。
用户必须为目标打开或连接电源。
(仿真包6.0.407.3)

JTAG 上 VTREF 和 GND 之间的电压约 为3.295V。
是否存在任何已知问题？
我想知道客户应该检查并执行哪些操作来恢复它。

感谢您的友好检查。
此致、
Hitoshi



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    TI__Guru**** 2589245 points
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    由于美国假期、您可以在12月3日之前收到回复

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    TI__Guru**** 2589245 points
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    您好、Hitoshi、

    他们使用的是定制板还是 TI 评估板？ CCS 中的"测试连接"功能是否对他们成功？

    有一份有关 JTAG 连接调试的良好应用报告、链接如下：

    http://www.ti.com/lit/spracf0

    客户器件上的引导模式引脚的状态是什么？

    最棒的

    Kevin

  • 0
    TI__Guru**** 2589245 points
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    Hitoshi、

    查看这是否仍然是问题或客户已了解问题。  如果需要我们采取更多行动、请告知我们。

    最棒的

    Matthew

  • 0
    TI__Guru**** 2589245 points
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    您好、Matthew、

    他们正在利用自己的定制板。
    单击"Test Connection"后、日志如下所示：

    [开始：德州仪器 XDS2xx USB 调试探针_0]
    执行以下命令：
    %CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -S 完整性
    [结果]
    ---- [打印电路板配置路径名]---------------
    C：\Users\fjk9550\AppData\Local\TEXASI~1\
       CCS\ti\0\0\BrdDat\testBoard.dat
    ---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
    此实用程序已选择了560/2xx 类产品。
    此实用程序将加载程序'xds2xxu.out'。
    图书馆的建造日期为"2016年7月27日"。
    库构建时间为'17：54：51'。
    库软件包版本为'6.0.407.3'。
    库组件版本为'35.0.0'。
    控制器不使用可编程 FPGA。
    控制器的版本号为"13"(0x0000000d)。
    控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
    此实用程序将尝试重置控制器。
    此实用程序已成功重置控制器。
    ---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
    此仿真器不会创建复位日志文件。
    ---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----
    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。
    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：0
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：0
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：0
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：0
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：0
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：0
    所有值均已正确扫描。
    JTAG IR 完整性扫描测试成功。
    ---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----
    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。
    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：0
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：0
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：0
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：0
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：0
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：0
    所有值均已正确扫描。
    JTAG DR 完整性扫描测试成功。
    [结束：德州仪器 XDS2xx USB 调试探针_0]

    引脚条件：
    GPIO37/TDO： 1、 GPIO34：1、TRST：0  ->模式3 GetMode


    根据客户的说法、当闪存编程期间发生复位时、他们听说 某些器件由于安全原因拒绝访问。
    在这种情况下、器件是否进入安全模式？
    还是闪存已折叠？  

    感谢您的友好检查。
    此致、
    Hitoshi



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    TI__Guru**** 2589245 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Hitoshi、

    当 TRST 被设定为1用于仿真引导模式时、它们是否能够连接？

    [引用 user="hitoshi Sugawara">根据客户的说法、当闪存编程期间发生复位时、他们听说 某些器件由于安全性而拒绝访问。
    在这种情况下、器件是否进入安全模式？
    还是闪存已折叠？  [/报价]

    发生这种情况时、是否对 CSM 密码进行了编程并锁定了器件？ CSM 密码的地址为0x3F 7FF8。

    最棒的

    Kevin

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    TI__Guru**** 2589245 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kevin：

    器件已返回 TI 进行测试。
    我们的质量团队会对其进行处理。

    请关闭此主题。
    感谢您的宝贵建议。

    此致、
    Hitoshi