[参考译文] TMS320F28375S：ADC 转换结果显示周期性变化

大家好、Tashiro-san、

他们使用了什么方法来检查基准？  通过 DMM 进行直流检查、还是通过示波器进行时间序列检查？  可能值得通过使用示波器进行检查来检查基准是否存在振荡。  此外、驱动基准的 IC 是什么？  直接驱动~4uF 电容时、它是否稳定？  

20ms 周期对应于50Hz 信号。  系统是否生成/控制50Hz 信号？  如果是、功率级是否与 MCU 隔离？  可能值得使用示波器检查 ADC 信号电容器、VREFLO、钳位二极管的接地和电源等的接地、以查看是否可以观察到50Hz 信号耦合到信号或参考路径。

0.1uF 电容器是否物理上靠近 ADC 引脚放置？  0.1uF 应足以与内部 ADC S+H 电容器共享电荷、因此接近最小值的 S+H 时间实际上应该是可以的(看起来配置文件显示 S+H = 400 x 5ns = 2uS？)。  

当电荷共享时、需要在采样率(在给定通道上)与外部阻抗之间进行权衡。  如果 ADC 采样过快、电荷将从外部电容器从后续每次采样中泄漏、这快于通过分压器将电荷重新充电至强制电压的速度。  您可以尝试降低采样率以查看性能是否发生变化(但您还应该能够通过输入引脚上的示波器直接看到这种很大的变化、因此这可能不是一个问题)。

除了您提供的设置之外、您还应该验证 SYSCLK (应该<= 200MHz)、ADCCLK (应该<= 50MHz)和 ADC 信号模式(应该是单端)。