尊敬的先生:
我们正在开发的产品之一中使用28376S 芯片,并对 ADC 采集时间进行重新分级有一些问题。
ADC-A 被设定为在50MHz 频率下工作 (C28x 在200MHz 上工作), 采集时间为 500ns ( 我也尝试过1000ns)
2、我们设置了4xSOC (0..4)来采样 特定模拟输入(3、2、5、4、0) - SOC0-4的触发来自 PWM1 (例如、20Khz 频率下的 EPMSOCA)
除了 SOC15、我们还定义了对内部温度进行采样(例如 CHSEL=13)、触发频率为每~100ms 由软件触发一次
答:我们所面临的问题是,每隔~100ms (内部温度测量), SOC0 ( 在 SOC15之后采样)就会受到一定的影响,SOC0连接到0v。
SOC0在+15 ADC 点之间变化,如果我们在 SOC15上停止采样,没有问题,您能就此问题提出建议 吗?
b.关于 ADC 采集时间 、如果我们在模拟引脚 RC 滤波器上的 Rs=220 Ω 且 Cs=680ns 、 则根据文档、采集时间将为~ 880ns
它是否正确,或者我们有误计算?
C.在顺序采样之间可能产生额外影响的因素 (例如,SCO0影响 SOC1,SOC1影响 SOC2 )
我们怀疑这是 由于顺序采样 而不是噪音,请您发表意见?