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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/757586/faq-f05-flash-what-is-depletion
Q：闪存 API 具有删除恢复算法。 耗尽是如何发生的、如何避免？
答：
注意：此答案适用于具有 F05闪存的器件。 请参阅： [常见问题解答] F05闪存：哪些 C2000器件具有"F05闪存"？
如果擦除操作被中断且不允许完成、器件可能会被耗尽。 发生这种情况时、器件可能会开始无法擦除。 擦除算法不应被停止、这也会影响 CSM 密码。 闪存 API 有一个删除恢复函数来尝试恢复已被"过擦除"的闪存。 如果在擦除阶段闪存编程过程被中断、执行擦除过程的定时循环有可能被打乱。
CCS 片上闪存编程器支持删除恢复功能。 您将在中看到它作为可在闪存插件 GUI 中的"Operations"下选择的选项之一列出。 您可以通过单击"帮助"按钮、转至搜索选项卡并输入"删除"来获取有关此内容的其他信息。
耗竭回收还寻找正在耗竭的部门，并试图收回这些部门。 将检查器件上的所有扇区。
该算法的当前最大超时时间大约为每个正在耗尽的扇区35秒。 通常情况下、只有一个扇区处于耗尽状态、除非在多个扇区上多次调用擦除而没有运行至完成。 如果可以容忍更长的超时、则可以多次使用耗尽恢复。
不能保证这个算法能够在合理的时间内使一个扇区脱离耗尽状态。 部件的损耗越深、恢复所需的时间就越长。 闪存 API 擦除功能已经被执行以擦除闪存、这样它不会被深度删除。 但是、如果 CPU 在一个擦除脉冲期间被暂停很长时间、那么这个部件可被放置在一个在可接受的时间段内不可恢复的深度耗尽中。
如果闪存密码未知、此算法无法恢复器件。 例如、如果在 CSM 密码所在的扇区 A 的擦除期间断电、则器件可能被永久锁定、恢复算法无法在闪存上运行。
如果耗尽恢复步骤失败、则更换是唯一的选择。
有关 F05的更多常见问题解答、请参阅 [常见问题解答] F05闪存：常见问题解答
