您好!
我想知道我们是否正在做任何活动来使我们的器件符合任何 C2000系列的 ASIL B/C 标准,特别是 F2802x/2803x 的标准。
谢谢
Umberto
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您好!
我想知道我们是否正在做任何活动来使我们的器件符合任何 C2000系列的 ASIL B/C 标准,特别是 F2802x/2803x 的标准。
谢谢
Umberto
F2802x 和 F2803x 均使用 TI 的 QM (质量管理)符合 ISO-91/IATF 16949标准的产品开发方法开发。
此外、我们还为这些器件提供以下支持
基于 TI (SDO–编译器团队)发布验证的免费编译器资质审核套件,同时支持 C28x 和 CLA 编译器
一个(也是免费的) SafeTI 软件包(以源代码形式提供)、经过 UL (UL 1998 1类)和 VDE (IEC 60730 B 类)认证、可帮助系统集成商设计符合安全标准的终端应用。
此软件包中包含可立即运行的应用示例、这些示例演示了如何创建加电自检(POST)和定期自检(PEST)
此软件包还随附用户指南和安全手册、可从以下位置下载:
http://www.ti.com/tool/iec60730swpackages
最后、TI 还可以(仅在 SafeTI-NDA 下)基于以下假设为 F2802x 和 F2803x 提供定量的 FMEDA:
FMEDA 中不考虑模拟宏软拟合、因为 TI 没有关于模拟组件(例如闪存、ADC 等)对芯片拟合的贡献的信息。
也不考虑封装拟合和 IO 拟合。
由于180nm 嵌入式闪存技术(F05)中的硬故障而导致的基本故障率(BFR)不可用。 因此、在计算中使用130nm eFlash (F035)节点的 BFR。
根据文献、BFR 随着技术扩展而增加、因此数据将会悲观。
F05中软错误导致的 BFR 是基于 TI 的专有计算器计算的。
触发器和存储器元件的值不同、因此需要单独计算。
未考虑按需硬件诊断的贡献(例如存储器 CPUBIST、内核 STL 等)。
因此、通过包括按需诊断措施的覆盖范围、计算出的值将是悲观的、现实的值。
最后但同样重要的是、根据 ISO 26262进行 ASIL-B/C 器件认证的所有工作目前都侧重于 F28x7x 和 F28004x 器件系列。
我们没有任何计划将 F2802x 或 F2803x 器件认证为 ISO 26262。
但是、客户可能能够使用支持(如上所述)来验证他们基于 F2802x/F2803x 的系统是否符合 ISO 26262 ASIL-B/C (系统级)标准