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[参考译文] TMS320F28020:汽车 ASIL B/C

Guru**** 2386620 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/662439/tms320f28020-automotive-asil-b-c

器件型号:TMS320F28020

您好!

 我想知道我们是否正在做任何活动来使我们的器件符合任何 C2000系列的 ASIL B/C 标准,特别是 F2802x/2803x 的标准。

谢谢

Umberto

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    F2802x 和 F2803x 均使用 TI 的 QM (质量管理)符合 ISO-91/IATF 16949标准的产品开发方法开发。

     

    此外、我们还为这些器件提供以下支持

     

    1. 基于 TI (SDO–编译器团队)发布验证的免费编译器资质审核套件,同时支持 C28x 和 CLA 编译器

      http://www.ti.com/tool/safeti_cqkit

    2. 个(也是免费的) SafeTI 软件包(以源代码形式提供)、经过 UL (UL 1998 1类)和 VDE (IEC 60730 B 类)认证、可帮助系统集成商设计符合安全标准的终端应用。

    • 此软件包中包含可立即运行的应用示例、这些示例演示了如何创建加电自检(POST)和定期自检(PEST)

    • 此软件包还随附用户指南和安全手册、可从以下位置下载:

    http://www.ti.com/tool/iec60730swpackages

    1. 最后、TI 还可以(在 SafeTI-NDA 下)基于以下假设为 F2802x 和 F2803x 提供定量的 FMEDA:

    • FMEDA 中不考虑模拟宏软拟合、因为 TI 没有关于模拟组件(例如闪存、ADC 等)对芯片拟合的贡献的信息。

      • 也不考虑封装拟合和 IO 拟合。

    • 由于180nm 嵌入式闪存技术(F05)中的硬故障而导致的基本故障率(BFR)不可用。 因此、在计算中使用130nm eFlash (F035)节点的 BFR。

      • 根据文献、BFR 随着技术扩展而增加、因此数据将会悲观。

    • F05中软错误导致的 BFR 是基于 TI 的专有计算器计算的。

      • 触发器和存储器元件的值不同、因此需要单独计算。

    • 未考虑按需硬件诊断的贡献(例如存储器 CPUBIST、内核 STL 等)。

      • 因此、通过包括按需诊断措施的覆盖范围、计算出的值将是悲观的、现实的值。

     

    最后但同样重要的是、根据 ISO 26262进行 ASIL-B/C 器件认证的所有工作目前都侧重于 F28x7x 和 F28004x 器件系列。

    我们没有任何计划将 F2802x 或 F2803x 器件认证为 ISO 26262。

    但是、客户可能能够使用支持(如上所述)来验证他们基于 F2802x/F2803x 的系统是否符合 ISO 26262 ASIL-B/C (系统级)标准