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[参考译文] F28M36P63C2:F28M36P63C2辐射分析

Guru**** 2941020 points

Other Parts Discussed in Thread: F28M36P63C2

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/740177/f28m36p63c2-f28m36p63c2-radiation-analysis

器件型号:F28M36P63C2

您好!

我们使用 的是 F28M36P63C2微控制 器、我们希望计算单粒子翻转(SEU)率(以每小时误差为单位)和多位翻转(MBU)率(以每小时误差为单位)。 我认为,您可以为我们提供符合 SEU 和 MBU 的故障率:您能否为我们提供最大值和平均值 ?

以下是有用的数据 :

我们         考虑质子和中子效应

-         最高海拔为43000英尺,平均海拔约为37000英尺

-         最大纬度 为90°,平均纬度为45°

         飞行时间 :最多20小时,平均5小时,

-         组件的最高温度为105°C、环境温度为85°C、平均值为45°C

-         VDDIOLMIN=3、135V

-         VDD12min=1.176V  

-         VDD18min=1.764V

此致、

Romain

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    Romain、
    请联系为您提供支持的 TI FAE、因为可能需要签订 NDA 才能推进这项工作。
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    Hareesh、

    我试图与他联系,但他目前不在办公室。

    此外,就这一相关问题提供的答案是 :e2e.ti.com/.../654976
    很好、我只想对不同的输入值给出一个答案、如果可能的话、还想获得更多的飞行次数、以便我们有可能发生多次比特翻转事件。

    您认为这是可能的吗?

    谢谢、
    Romain

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    请使用 新在线支持 Web 表单将此 SER 数据请求提交给销售支持部门

     

    • 选择“质量、可靠性、环境”
    • 在说明部分、请确保您提供了完整的可订购 TI 器件型号。
    • 并指出您需要 SER 报告。

     

    如果报告已可用、将立即发送给您。   

    一旦 NDA 确认且这是正式请求、我们可以解决任何其他问题。

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    Romain、
    我将关闭此主题、因为它正在脱机工作。