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[参考译文] TMS320F28376D：DAC 电气特性

admin
Guru**** 657930 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28376D
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1209452/tms320f28376d-dac-electrical-characteristics

器件型号：TMS320F28376D

大家好、

 

对于 TMS320F28376D 的缓冲 DAC 电气特性、以下每个器件的增益和失调电压误差值是否相同？

例如、假设第一个上电周期的偏移误差为8mV。 那么、在第2个/第3个上电周期它是否始终为8mV？ 或者它是否有可能是10mV 或5mV？

 

此致、

久留米

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    TI__Guru**** 657930 points
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    例如、
    、假设第一个上电周期的偏移误差为8mV。 那么、在第2个/第3个上电周期它是否始终为8mV？ 或者它是否可能是10mV 或5mV？

    不应认为偏移误差在下电上电期间始终保持恒定。 误差可能会随老化、温度、器件间等而变化

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    TI__Guru**** 657930 points
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    感谢您的提示回复。

    因此、即使温度、老化和器件相同、这些误差也会发生变化。 我们无法按器件校准这些误差、对吗？  

    此致、

    久留米

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    TI__Guru**** 657930 points
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    Kurumi、

    您可以进行校准、但理想情况下您应该在每个器件上电时运行校准。 这将解决老化和器件间差异的问题。 要考虑温度变化、您必须定期运行校准。  

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    TI__Guru**** 657930 points
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    明白了、谢谢！