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[参考译文] TMS320F28386D：闪存 ECC 测试

admin
Guru**** 2451970 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1204705/tms320f28386d-flash-ecc-test

器件型号：TMS320F28386D

何时执行 TI 提供的  SDL_EX_FLASH_ECC_TEST。

技术参考手册文档 。 当 ECC 测试模式被启用时、CPU 不能从闪存中读取数据、而是 CPU 从 ECC 测试模式寄存器(FDATAH_TEST/FDATAL_TEST)中获得数据。 这是因为 ECC 测试模式寄存器(FDATAH_TEST、FDATAL_TEST、FECC_TEST)与来自闪存的数据进行多路复用。

据我了解、实际闪存地址也应该具有相同的数据 0xFEDBBA0987654321ULL、 但在调试中、它显示的不是。

如何理解  ECC 测试模式寄存器(FDATAH_TEST、FDATAL_TEST、FECC_TEST)与来自闪存的数据复用。

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    TI__Guru**** 2451970 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好！

    (已更新答案)

    通过访问闪存地址、您应该不会看到在调试窗口中看到写入 ECC 测试模式寄存器的有效数据。 此行为未定义、TRM 指定不执行此操作。 要确认写入 ECC 逻辑用于测试目的的数据、请使用 CPU 代码执行验证、或读取测试模式寄存器。

    此致、
    Ibukun

  • 0
    TI__Guru**** 2451970 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    是的、我了解 TRM 中对如何做到这一点的介绍。

    但我无法理解 TI 的 多路复用 原理(ECC 测试模式寄存器与 Flash 中的数据复用)。

    是否有详细的阐述文件？

  • 0
    TI__Guru**** 2451970 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    否、我们不会  在器件技术参考手册之外发布内部闪存逻辑的详细信息。

    此致、
    Ibukun