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[参考译文] LAUNCHXL-F28027:FTDI 芯片会快速发热

Guru**** 666460 points
Other Parts Discussed in Thread: DRV8301, LAUNCHXL-F28027
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1204181/launchxl-f28027-ftdi-chip-is-subjected-to-rapid-heating

器件型号:LAUNCHXL-F28027
主题中讨论的其他器件:DRV8301

尊敬的团队

我们的客户遇到以下问题:

我们正在使用 TI 微控制器、即 LAUNCHXL-F28027以及 BOOSTXL DRV8301。我们仍计划购买一些具有更高额定值的电源模块
我们需要技术支持在我们使用 F28027的过程中、我们遇到了 FTDI 积分问题、其中一个板出现问题、而在另一个板中、FTDI 芯片会受到快速加热

谢谢你  

William

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    您好、William、

    使用 LAUNCHXL-F28027时、您是否要移除 JP1、JP2、JP3以将电路板的 FTDI/PC 侧与 F28027目标侧隔离?

    此致!

    Kevin 老师

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    尊敬的 Hevin:

    感谢您的努力。

    我尚未移除任何 JP1、JP2、 和 JP3、并通知他们有关另一个板的问题第二个我一直面临  JTAG 完整性失败的问题、我不知道原因、但突然我无法将我的板连接到 PC、因为它向我显示了一些错误 关于 JTAG、下面是我在验证连接时显示的消息、另请查看这一点  

    谢谢你  

    William

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    您好、William、

    我想您忘记附加该错误消息了。 您是否能够在 CCS 中使用目标配置文件(.ccxml)执行"测试扫描"?

    此致!

    Kevin 老师

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    尊敬的 Kevin:

    客户回答如下

    是的、我能够执行测试扫描我遇到以下错误、下面是 JTAG 完整性的验证测试结果  

    [开始]
    执行命令:
    %CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfilename%-RV -o -F inform、logfile=yes -S 路径长度-S 完整性
    [结果]
    -------- [打印主板配置路径名}-->--------------------
    C:\Users\hp\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\ccs1100\
      0\0\BrdRat\testBoard.dat
    -------- [打印复位命令软件日志文件]----------
    此实用程序已选择100或510类产品。
    该实用程序将加载适配器"jioserdesusb.dll"。
    库构建日期为'2021年10月 8日'。
    库构建时间为"13:26:36"。
    库包版本为"9.5.0.00143"。
    库组件版本为'35.35.35.5.0'。
    控制器不使用可编程 FPGA。
    控制器的版本号为"4"(0x00000004)。
    控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
    此实用程序将尝试重置控制器。
    此实用程序已成功重置控制器。
    -------- [打印重设命令硬件日志文件]----------
    通过切换 JTAG TRST 信号可重置扫描路径。
    控制器为带 USB 接口的 FTDI FT2232。
    从控制器到目标的链路是直接的(无电缆)。
    该软件针对 FTDI FT2232功能进行了配置。
    控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
    控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
    控制器无法控制输出引脚上的时序。
    控制器无法控制输入引脚上的时序。
    扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
    -------- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]------
    没有用于编辑 JTAG TCLK 频率的硬件。
    -------- [测量 JTAG TCLKR 最后输入的源和频率]----
    没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
    -------- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试}-->----
    此路径长度测试使用64个32位字的块。
    JTAG IR 指令路径长度测试失败。
    JTAG 红外指令扫描路径固定在1。
    JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
    JTAG DR 旁路扫描路径固定为1。
    -------- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试}-->----------
    此测试将使用64个32位字的块。
    此测试将只应用一次。
    使用0xFFFFFFFF 执行测试。
    扫描测试:1、跳过:0、失败:0
    使用0x00000000进行测试。
    测试2字0:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字1:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字2:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字3:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字4:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字5:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字6:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字7:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    提供了前8个错误的详细信息。
    实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
    扫描测试:2、跳过:0、失败:1
    使用0xFE03E0E2进行测试。
    扫描测试:3、跳过:0、失败:2
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试:4、跳过:0、失败:3
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试:5、跳过:0、失败:4
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试:6、跳过:0、失败:5
    其中一些值已损坏- 83.3%。
    JTAG IR 完整性扫描测试失败。
    -------- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试-------------------------------------------------------
    此测试将使用64个32位字的块。
    此测试将只应用一次。
    使用0xFFFFFFFF 执行测试。
    扫描测试:1、跳过:0、失败:0
    使用0x00000000进行测试。
    测试2字0:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字1:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字2:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字3:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字4:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字5:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字6:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    测试2字7:已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
    提供了前8个错误的详细信息。
    实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
    扫描测试:2、跳过:0、失败:1
    使用0xFE03E0E2进行测试。
    扫描测试:3、跳过:0、失败:2
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试:4、跳过:0、失败:3
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试:5、跳过:0、失败:4
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试:6、跳过:0、失败:5
    其中一些值已损坏- 83.3%。
    JTAG DR 完整性扫描测试失败。

    谢谢你  

    William

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、William、

    您可以浏览这里介绍的 JTAG 调试步骤、以便首先尝试解决此问题: https://www.ti.com/lit/spracf0

    如果电路板上的 FTDI 器件(或其他器件)确实损坏、则需要更换(焊接工作)、或者您需要一块新的电路板。

    此致!

    Kevin 老师