This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TMS320F28379D:需要 HWBIST 寄存器详细信息

Guru**** 2467360 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28377S

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1250107/tms320f28379d-need-hwbist-registers-details

器件型号:TMS320F28379D
主题中讨论的其他器件:TMS320F28377S

我正在从事 SAFATI Librex 的工作,我需要 HWBIST 所有寄存器的详细信息。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Rana,

    您是否具有此器件安全配套资料的安全访问权限?  我只是在尝试确认 HWBIST 寄存器信息是否在该软件包中。

    此致!

    马修

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您是指此页面。 否则我没有任何其他的访问权限  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Rana、

    专家今天不在办公室、请期待明天回复。 对于给您带来的不便、我们深表歉意。

    Luke

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Rana,

    我与其他人讨论过、我们不会提供 HWBIST 寄存器的详细信息、即使在我的安全保护配套资料中也是如此。  我们只需提供驱动程序函数和运行参数、即可实现文档中包含的不同故障覆盖率。

    您能否提供有关是否需要寄存器信息的更多详细信息?

    此致!

    马修

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    好的。 我们希望 在我们的产品中使用 TMS320F28377S、并希望使其符合 UL-1998年2月/IEC-60730的要求。 通过集成安全的 TI 库和示例、我们是否能够使产品符合这些标准。 还有一个问题、

    1.我希望 在同一个引脚上执行 STL_GPIO_compareInput 和 STL_GPIO_verifyOutput 是否可行。  

    2.如果在一个管脚上执行一个 GPIO 测试,对整个端口是否足够?

    3. ADC 也是如此,在一个通道上测试足以容纳同一 ADC 的其余通道。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Rana,

    1. 我希望 在同一个引脚上执行 STL_GPIO_compareInput 和 STL_GPIO_verifyOutput 是否可行。  [/报价]

    我需要再次检查这个、并更深入地访问 STL 库。  请给我几天时间来研究这个问题、

    2. 如果在一个引脚上执行 GPIO 测试、是否足以测试整个端口[/报价]

    这将涵盖单个 GPIO 的路径、并验证通过端口的路径是否正常。  不过、我想您需要在您的系统正在使用的每个 GPIO 上执行此操作。  每个 GPIO 都有自己独立的输入/输出缓冲器、这些缓冲器可能会独立发生故障。

    3. ADC 也是如此、在一个通道上测试足以容纳同一 ADC 的其余通道。
    [/quote]

    这将表明 ADC 输入/通道以及采样保持电容器和转换器本身都良好。  不过、与 GPIO 相同、它不能保证其他 ADC 输入良好。  我认为您需要尽可能针对使用中的每个 ADC 输入进行测试。

    此致!

    马修

    [/quote][/quote]
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    好的、您的建议是、  

     我们希望 在我们的产品中使用 TMS320F28377S、并希望使其符合 UL-1998年2月/IEC-60730的要求。 通过集成安全的 TI 库和示例、我们是否能够使产品符合这些标准。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我的理解是、此器件可实现 IEC60730 C 类。

    此致!

    马修

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我还有一个问题。 安全处理器需要通过 ADC 输入读取一些模拟变量。 具体来说、我将使用 F28379D Launchpad 中的 ADC-A0/DACOUTA 来读取模拟电压、并希望实施 ADC 自检、以确保读取的值是正确的。 现在、当我保持此输入悬空时、库函数 STL_ADC_TEST 通过、而当引脚连接到源(运算放大器输出)时、相同的测试失败。  请指导我 在存在外部模拟信号的情况下如何使用 STL_ADC_TEST 通过 ADC 自检。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    STL_ADC_TEST 应具有一个变量、用于根据提供给引脚的电压输入预期的 ADC 转换结果。  对于 A0/DACOUT、您可以通过片上缓冲 DAC 控制该电压。

    请注意、浮点 ADC 输入会转换为非零值; 我相信在该器件上、采样电容器将稳定到~半标度(12位模式下为2048)、因此我会为 DAC/自检选择一个不同的值、以避免在电容器浮动时出现错误通过。

    此致!

    马修