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[参考译文] TMS320F28075:ADC 误差校准

Guru**** 2390735 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1264845/tms320f28075-adc-error-calibration

器件型号:TMS320F28075

亲爱的香榭丽舍大街,

我是为我们的客户提出这个问题。

在数据表中、

7.10.1.2.2 ADC 特性

  1. 哪个 ADC 误差可以校准、哪个无法校准?
  2. ADC 特性表中的哪一个误差参数 适用于单端 ADC、哪一个适用于差分 ADC?
  3. "通道到通道增益/失调电压误差"和"ADC 到 ADC 增益/失调电压误差"是什么意思?
  4. 某些测试结果未在 ADC 特性表中显示"测试条件"。 增益误差、偏移误差、通道间增益/偏移误差 INL/DNL 的测试条件是什么?
  5. ADC 特性表的结果基于什么温度和采样率测试条件?
  6. 建议的采样率是多少?
  7. F28075 ADC 的温漂误差是多少?

此致、

丹尼尔

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Daniel、您好!

    YINGMING LIU 说:
    可以校准哪一个 ADC 错误、哪一个错误不能校准?

    如果您讨论的是校准 ADC、OTP 中有用于将修整值复制 到相应 ADC 寄存器中的函数。 如果您想执行重新校准以替换寄存器中的修整值、我相信此器件没有任何此类内置功能。 您可以在下面看到参考手册中提供的屏幕截图。

    "通道到通道增益/偏移误差"和"ADC 到 ADC 增益/偏移误差"是什么意思?

    你可以参考我对这个帖子的第二个回答: https://e2e.ti.com/f/1/t/1186725

    YINGMING LIU 说:
    某些测试结果未在 ADC 特性表中显示"测试条件"。 增益误差、偏移误差、通道间增益/偏移误差、INL/DNL 的测试条件是什么?

    您可以参阅以下屏幕截图、我认为该截图突出显示了唯一的测试条件。 如果客户尝试过这种方法、但仍然无法获得类似结果、请告诉我、我可以进一步询问他们的设置:

    YINGMING LIU 说:
    ADC 特性表的结果是基于什么温度和采样率测试条件?

    我认为这些数据是根据不同温度下使用最大采样率进行的一系列测试捕获的、但我将与另一位专家进行仔细检查。

    YINGMING LIU 说:
    建议的采样率是多少?

    建议的采样率取决于客户应用的控制环路; 更快的采样率意味着 需要更快地计算 ADC 数据、这可能会占用其他过程的带宽。 这是客户应根据其需求做出的决策、但考虑到 没有基于用户的要求、采样率可以达到3.1MSPS。

    YINGMING LIU 说:
    F28075 ADC 的温度漂移误差是什么?

    我需要问一下这个问题、然后给您回复。

    此致、

    阿米尔·奥马尔

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Daniel、您好!

    YINGMING LIU 说:
    ADC 特性表的结果是基于什么温度和采样率测试条件?

    最小值/最大值的特性 在器件的工作范围(即 从低温到高温)内进行了测试、以便能够根据这些条件提供所需的特性数据。

    YINGMING LIU 说:
    F28075 ADC 的温度漂移误差是什么?

    偏移/增益误差最小/最大值中包含漂移误差。 请注意、对于外部基准、假定基准是理想基准。

    此致、

    阿米尔·奥马尔

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    如果您打算校准 ADC、OTP 中有函数可用于将修整值复制 到相应的 ADC 寄存器中。 如果您想执行重新校准以替换寄存器中的修整值、我相信此器件没有任何此类内置功能。 您可以在下面看到参考手册中可用内容的屏幕截图。

    我们提到过、F28075无法执行重新校准来替换寄存器中的修整值。

    这是否意味着客户无法通过任何方法提高 ADC 精度? 或者您是说工厂校准后的修整值不能更改?

    假设客户  在初始化时已通过 Device_cal()调用 FACTORY OTP TRIM,客户想知道他们是否可以进一步校准它们。

    对于一般增益/偏移误差、我们知道用户可以使用基于软件的校准、例如我们的应用手册"TMS320280x 和 TMS3202801x ADC 校准"(https://www.ti.com/lit/an/spraad8a/spraad8a.pdf?ts = 1673934939&ref_url=https%253A%252F%252Fwww.ti.com%252Fproduct%252FTMS320F2808)

    您能否帮助再次确认客户是否可以使用本应用手册中的此软件方法来校准 F28075 ADC?

    此致、

    丹尼尔  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Daniel、您好!

    是否意味着客户无法通过任何方法提高 ADC 的精度? 或者您是否意味着工厂校准的校准值无法更改?

      我认为存储在寄存器(从 OTP 加载)中的修整值可以用客户需要的任何内容进行覆盖、只是在启动时这些出厂值是自动加载的值。

    您能否帮助加倍确认客户是否可以在本应用手册中使用此软件方法来校准 F28075 ADC?

    应用报告中使用的软件/公式应该适用于我看到的内容、但请记住、本章中介绍的与 ADC 本身相关的硬件/ADC 概念 很可能不适用于 F2807x ADC。 按照 外设参考指南、这两个器件有根本上不同的 ADC。 只要客户知道这一点、他们就应该能够使用相同的软件方法来校准 ADC。 如果他们有任何问题、请告诉我。

    此致、

    阿米尔·奥马尔

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Daniel、您好!

      存储在寄存器中的调整值(从 OTP 加载)我认为可以用客户需要的任何内容覆盖,只要启动这些出厂值是自动加载的。

    请注意、在此器件上、每个 ADC 都有后处理块(PPB)、可用于在硬件中抵消 ADC 输入值。 如果 OTP 中提供的饰件不足、客户可以使用此设计。

    此致、

    阿米尔·奥马尔