尊敬的所有人:
当 出现更大的电流时、我的 MCU 会触发看门狗复位。
我的程序设计了一个日志函数(将数据存储在该 MCU 的 RAM 中)、但 数据全都混乱。
我认为 RAM 存储器在当时也会受到影响。
我想问一下这个大电流对 MCU 有多大影响?
它是否会通过导通对 MCU 产生影响?(通过数字 IO? 电源引脚? 接地?) 辐射发射?
此 MCU 是否在文档上有一些 EMC 规格?
谢谢。
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尊敬的所有人:
当 出现更大的电流时、我的 MCU 会触发看门狗复位。
我的程序设计了一个日志函数(将数据存储在该 MCU 的 RAM 中)、但 数据全都混乱。
我认为 RAM 存储器在当时也会受到影响。
我想问一下这个大电流对 MCU 有多大影响?
它是否会通过导通对 MCU 产生影响?(通过数字 IO? 电源引脚? 接地?) 辐射发射?
此 MCU 是否在文档上有一些 EMC 规格?
谢谢。
所谓"大电流"、假设您指的是功率级中的电流、而不是器件本身消耗的电流。 RAM 内容损坏并且看门狗启动复位的事实(可能是由于程序计数器损坏)表明器件受到 EMI 的影响。
ESD/EMI 事件能够导致器件中出现各种奇怪的行为、包括"锁定"或"冻结"器件。 当看门狗复位(或外部"热"复位、通过激活-XRS 引脚)通常会将器件拉出这种不确定状态时、有时下电上电是使器件再次正常运行的唯一方法。 解决方案是硬化电路设计、使其不受干扰。 挑战在于准确确定干扰对电路的影响。 也就是准确地确定噪声如何耦合到电路中。 换言之、噪音进入电路并导致故障的导管是什么? 一旦确定了这一点、就比较容易提出保护解决方案。 不幸的是、很多时候、在制造电路板后会发现缺点、因此有必要重新设计电路板。
有许多关于这一主题的书籍和许多论文出版。 实际电路设计、所使用的组件、组件的几何形状、电路板布局、电路板堆叠、所采用的屏蔽都对设计的抗扰度起着重要作用。 调试此类问题是一个迭代过程、需要进行实际调试。 在不访问原理图、PCB 布局和硬件本身的情况下、通过远程调试此类问题非常困难。 换句话说、远程调试是不切实际的。 第一项任务是确定噪声是传导耦合还是辐射耦合到系统中。 即、我们要处理的问题是传导抗扰性还是辐射抗扰性。 确定该点后、我们需要确定噪声进入系统的入口点。 只有这样我们才能提出解决方案。 问题可能与去耦/滤波不足、布局不正确、屏蔽不当(或缺少)等有关。 有许多在线资源可以处理这一问题。 很难在帖子中解释它们。 请 google "EMC 屏蔽"获取有用的链接。
Unknown 说:我想问问这个大电流对 MCU 有多大影响吗?
大电流会导致更大的开关噪声和 更强的电磁场。
Unknown 说:是否会通过传导方式影响 MCU?(通过数字 IO? 电源引脚? 接地?) 或 通过辐射?
上述任何一项都可以作为管道。
Unknown 说:此 MCU 是否在文档中包含一些 EMC 规格?
否。