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[参考译文] TMS320F28388S:不同温度下的 ADC 零偏移

Guru**** 2387080 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1302195/tms320f28388s-adc-zero-offset-under-different-temperature

器件型号:TMS320F28388S

您好!

客户询问一些有关不同结温/环境温度下 ADC 零偏移的数据。

他们希望在不同的温度下对其进行校准。 我们是否有此类数据?

对于每个 ADC、有一个引脚可在内部连接到 AGND。 不过、可以使用它来计算该值。

非常感谢。

Br、约旦

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    您好、Jordan、

    我们还没有看到 ADC 失调电压与温度之间存在巨大的相关性。  在环境温度条件下测量的 ADC 失调电压适用于整个温度范围。  如前所述、如果每个 ADC 模块希望确定偏移、则都可以连接 AGND 并对其进行采样。  TRM 中详细说明了执行此操作的步骤。

    此致、

    约瑟夫

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    作者:Joseph、

    谢谢。  

    其他一些疑问:

    1) 1)使用16位差分模式、零偏移校准的逻辑是什么?  UG 说明如下。 通常、在不同的环境温度下、零偏移误差范围在哪里? 如果25°C 下的典型值为+/-9 LSB、那么85°C 下的典型值是多少?

    请按照以下过程在16位差分模式下重新校准 ADC 失调电压:
    将 ADCOFFTRIM 设置为不进行调整(0x00)。
    2.将 ADCINxP 和 ADCINyN 短接(外部连接)到 Vrefcm 附近的电压,并累加 16次转换的倍数(例如32*16次转换=512次转换)。
    3、将累加的结果除以转换次数(例如512次转换、512次转换、再除以512)。
    4.将 ADCOFFTRIM 设为0–步骤3的结果)。

    2) 2)除了零偏移之外、还有增益和线性误差。 增益和线性误差与温度之间的关系如何?  从我的角度来看、不同的温度下增益误差变化很小。  

    以客户为例、当温度升高时、ADC 结果误差变大。 目前、将调用偏移和线性的 OTP 修整值。  

    非常感谢。

    Br、约旦

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    您好、Jordan、

    请查看以下回答:

    [报价 userid="81435" url="~/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1302195/tms320f28388s-adc-zero-offset-under-different-temperature/4945799 #4945799"]1)使用16位差动模式,零偏移校准的逻辑是什么?  UG 说明如下。 通常、在不同的环境温度下、零偏移误差范围在哪里? 如果25°C 的典型值是+/-9 LSB,85°C 的典型值是多少?[/引号]

    JC:数据表中所示的典型值包括器件的额定温度范围、即-40C 至125C。

    使用以下过程在16位差分模式下重新校准 ADC 偏移:
    1.将 ADCOFFTRIM 设置为无调整(0x00)。

    JC:对于差分输入、需要两个通道、一个正通道和一个负通道、而这些通道必须彼此相邻。  在 UG 中、相邻正负输入的有效组合如表20-6 (输入引脚的通道选择)所示。  正负输入的差分信号添加后必须等于 VREFHI 值。  例如、如果选择的 VREFHI 为2.5V、ADCINP 为2.0V、则 ADCINM 必须为0.5V。  必须始终满足这一条件。  有关图示、请参阅数据表中的第7.11.2.2.1节(信号模式)。  对于 UG 中所述的差分模式信令的零偏移校准步骤、将 ADCINP 和 ADCINM 连接到 VREFCM 将产生等效输入、即中标度(VREFHI 的一半+系统偏移误差)。  偏移过程要求执行多次转换、以便捕捉更多变化(如果存在转换变化)、并在以后对其求平均值。

    2)除零偏移之外,还存在增益和线性误差。 增益和线性误差与温度之间的关系如何?  从我的角度来看、不同的温度下增益误差变化很小。  [/报价]

    JC:与偏移校正相似、工厂测试期间执行的线性校准用于器件的温度范围。  在较低或较高的温度下不需要线性校准。  F28388s 器件没有增益误差校正功能。  增益误差在很大程度上取决于 VREFHI 源的精度。  例如、如果 VREFHI 源具有0.05%的误差(2.5+/-1.25mV)、则相同的误差将在 ADC 处传播、从而产生大约32LSB 的增益误差。

    如果您的客户、哪个误差在温度升高时会更严重?  整个系统(装配+无源器件+参考电路等)是否已加热?  您是否遇到了其他问题、比如他们是否有足够的采样时间?

    希望上述信息有助于调试您的客户问题。  如果有其他问题、请告诉我。

    此致、

    约瑟夫