主题中讨论的其他器件：TMS320F28069、 C2000WARE
工具与软件：
您好！
我有一个 DSP 开发套件 R1.2、它由 PSIM 软件版本2021b 和一个 DSP 开发板(F2806x ISO controlCARD 和 DSP 板)组成。 遵照 PSIM 示例文件中的教程、我已经为目标 F2806x 生成了代码。 在 Code Composer Studio 12.7.1中、我导入了自动生成的代码并生成了项目。 到目前为止、一切都很好。
然而、在设置目标配置(仿真器 XDS100v2和目标 TMS320F28069 -这是因为匹配度最接近)后、我尝试启动目标配置。 CCS 仍然通知我(每次)无法连接目标。 我陷入了该过程的那一部分、无法使用 DSP 开发板的仿真器功能、需要进一步通过 CCS 和内置仿真器调试示例、并最终使用 PSIM 的 DSP 示波器监控波形。
请帮我解决这个问题、我将不胜感激。
此致、
P.S. 当我在"Target Configuration"部分运行"Test Connection"时、CCS 获得以下结果：
[开始：Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]
执行命令：
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatfilename%-RV -o -F inform、logfile=yes -S 路径长度-S 完整性
[结果]
-------- [打印主板配置路径名}-->--------------------
C：\Users\vinic\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
ccs1271\0\0\BrdDat\testBoard.dat
-------- [打印复位命令软件日志文件]----------
此实用程序已选择100/110/510类产品。
该实用程序将加载适配器"jioserdesusb.dll"。
库构建日期为"2024年4月19日"。
库构建时间为"14：04：01"。
库包版本为'12.7.0.00130'。
库组件版本为'35.35.35.5.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为"4"(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
-------- [打印重设命令硬件日志文件]----------
通过切换 JTAG TRST 信号可重置扫描路径。
控制器为带 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(无电缆)。
该软件针对 FTDI FT2232功能进行了配置。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
-------- [从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]------
没有用于编辑 JTAG TCLK 频率的硬件。
-------- [测量 JTAG TCLKR 最后输入的源和频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
-------- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试}-->----
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径固定为1。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径固定为1。
-------- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试}-->--------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。
使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
测试2字0：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
提供了前8个错误的详细信息。
实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
其中一些值已损坏- 83.3%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
-------- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试-------------------------------------------------------
此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。
使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
测试2字0：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：已扫描出0x00000000并已扫描到0xFFFFFFFF。
提供了前8个错误的详细信息。
实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
其中一些值已损坏- 83.3%。
JTAG DR 完整性扫描测试失败。
[End：Texas Instruments XDS100v2 USB Debug Probe_0]
