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[参考译文] TMS320F2800157:RAM ECC 测试

Guru**** 2535150 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000-microcontrollers-group/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/1389408/tms320f2800157-ram-ecc-test

器件型号:TMS320F2800157

工具与软件:

你好  

在 sdl_ex_ram_ecc_parity_test.c 文件的 runCorrectableECCTest 中、 我需要知道您为什么从0循环到16、但是、您尝试损坏的变量是32位。

runUncorrectableECCTest 也是如此。

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    有什么建议吗?

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    AHashem

    很抱歉延迟、我需要让团队中的其他一些人加入这个问题、他们对 SDL 有更多的经验。

    此致!
    Matthew

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    HELO、我过去面临同样的问题、

    如果您看看 RAM_DATA_SINGLE_BIT、您将看到2位是翻转的、其中一位表示前16位、另一位表示上16位。

    使用此方法、0到16的循环覆盖32位。

    此致

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    是的、Manu36解释了这一点。 参考一下、这里是 RAM_DATA_SINGLE_BIT 的#define:

    #define RAM_DATA_SINGLE_BIT     0x00010001UL // 1-bit mask in both words

    惠特尼