[参考译文] LMK04832-SP：请参阅测试报告

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Other Parts Discussed in Thread: LMK04832, LMK04832-SP

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https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/1531130/lmk04832-sp-see-test-report

器件型号：LMK04832-SP
主题中讨论的其他器件：LMK04832、

工具/软件：

希望大家都好。

我正在查看 TI 的 LMK04832 SEE 报告和 2023 IEEE 论文*。

您能回答几个问题吗？

请参阅测试报告第 9 页：在状态寄存器内容发生更改时、这是否准确地报告状态（即 PLL2 确实经历了重新锁定、VTUNE DAC 确实更改了设置）、或者这些内容是否为假、由辐射引起？
2023 年 IEEE 论文、第 4 页：提到在事件发生之前、SEU 可能会导致输出与频率异相。返回到原始阶段的唯一方法是复位器件吗？
请参阅测试报告第 6 页：是否正确理解配置寄存器是在运行之前编程的、并且在测试过程中未使用清理？我们想验证没有 SEFI（即任何可编程寄存器没有变化）报告的结果是否适用于不定期重写配置寄存器的设计。

谢谢！

* 比较 MSU 和 TAMU 重离子测试结果和 SEUS 对 LMK04832-SP 的评估输出依赖性由柯比 Kruckmeyer; Texas Instruments ,圣克拉拉, CA. USA, RAM Gooty; Texas Instruments、Tucson、AZ、USA、Samantha Williams； Texas Instruments、Dallas、TX、USA、Vibhu Vanjari；美国加利福尼亚州圣克拉拉的 Texas Instruments 和 Derek Payne；Texas Instruments、 Federal Way, WA, USA.

3 个月前

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2386610 points

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是的、PLL2 确实会经历重新锁定。这可能是由反馈环路中的分频器复位或类似内容引起的、尤其是考虑到某些配置使用了零延迟模式、反馈路径中使用了通道分频器、并且 SEE 报告中的图表明这些事件持续时间约为 µs μ s（至少比典型的 PLL2 PFD 周期长一个数量级）。但是、由于寄存器没有改变、分频器值也没有改变、因此系统在发生任何此类事件后不久恢复锁定。

Vtune DAC 确实更改了设置、但请参阅 SEE 报告中的图 3-4、如果我们将寄存器值解压缩到字段值、我们会看到 rb_DAC_VALUE 字段的值从 0x1FF 更改为 0x200、即在中等（即标称）电压下增加一位。 DAC 代码的量化为 3.3V / 1024 =约 3mV/代码。在 PLL1 的环路带宽（约 100Hz）、SEU 的典型持续时间和观察到的代码变化幅度之间、我们可以自信地得出结论、这与辐射效应无关。 single-bit 增加通常是 VCXO 频率/电压曲线或 DAC 采样电路的温度相关建立。我们经常看到这种情况在辐射测试环境之外发生很大的变化。

重点在于、我们预计在整个测试过程中保持非易失性的寄存器实际上仍然是非易失性的、不受任何辐射事件的干扰。唯一改变的寄存器是我们期望更改并在解锁事件时保持更改的事件锁存器、以及一个实时回读字段、该字段随非辐射环境中观察到的幅度定期变化。
相位误差是 SEU 触发的分频器复位（R、N 或输出通道/SYSREF 分频器）的结果。 Re 同步分频器无需完全复位或重新编程器件、并且遵循数据表中概述的典型同步过程。需要明确的是、在系统级别、同步是一个非常复杂的问题、全面复位可能是一种合理的方法；但是、由于寄存器状态在 LMK04832 上保留、因此根本不需要 LMK04832 复位和重新编程。
正确、测试过程中未执行任何清理或重新编程。在测试开始时对寄存器进行一次编程。 SEFI 结果（即任何可编程寄存器均无变化）适用于不定期重写配置寄存器的设计。

时钟和时序（参考译文帖）

时钟和时序（参考译文帖）(Read Only)

[参考译文] LMK04832-SP：请参阅测试报告