This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] LMK04610:LMK04610 PLL1 上的快速相移

Guru**** 2535150 points
Other Parts Discussed in Thread: LMK04610, LMK04828, LMK04832

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/1564078/lmk04610-lmk04610-rapid-phase-shifts-on-pll1

器件型号:LMK04610
主题中讨论的其他器件: LMK04828LMK04832

工具/软件:

我们使用的是 LMK04610。  我们有一个具有良好相位噪声规格的 VCXO、通过 PLL1 锁定到非常稳定的 MEMS 振荡器。  两者都是 100 米。

我们知道 LMK04610 将在 CLKIN 和 OSCIN 之间的 PLL1 中表现出一些相位漂移、并且在我们的电路板上看到这种情况。  我们从以下线程获得此信息:

我们看到的另一件事(这更令人担忧)是相位似乎缓慢漂移到某个点、可能在 MEMS osc 和 VCXO 之间大约 1ns 的偏移量、然后 PLL 似乎在特定温度下在 1ns 偏移与实际相位对齐之间来回反弹相位。  这会持续一段可变的时间、具体取决于特定器件。 我们发现此问题是低频(低于 PLL1 环路的带宽)相位噪声突然跳变、超过 10dB、这种噪声会出现、然后在温度瞬态中消失。

这个相位来回弹出是否是一个已知问题?  为了避免或尽量减少配置、我们是否可以进行一些配置更改?

我已经附加了配置以供参考。

e2e.ti.com/.../lmkVcxoConfig_2D00_DL.txt

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    这是一个已知问题。 这是不可避免的。 LMK04610 中半数字 PLL 的独特架构在低环路带宽下会导致 PLL1 相位检测器出现巨大的死区、其中 PLL1 R 和 N 相位摆动±几 ns。 可以通过增加环路带宽来降低抖动之间的间隔频率、但它仍会漂移、一旦周期滑落并脱离死区、它仍会偶尔反弹。

    如果 PLL1 R 和 N 相需要紧密匹配、我建议不要使用此器件。 LMK04828 或 LMK04832 等器件是更好的选择。  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Derek — 感谢您的快速响应。   遗憾的是、我们目前无法在生产中使用其他器件。

    死区和漂移对我们来说不像“反弹“那么大。  关于如何降低反弹事件的严重性、发生频率或持续时间的任何想法都将是有帮助的。

    很遗憾、数据表的应用部分或官方勘误表中没有记录这些已知问题。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    如前所述、我目前唯一的最佳建议是增加 PLL1 环路带宽、但不会有太大帮助。 我曾在 2019 年对此进行过长时间的分析、但我没有找到任何出色的解决方案、但这是我在 TI 工作的很早、我可能会忽略一些问题;让我看看今天和明天、并报告所有发现。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您再看一下。  谢谢!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Derek — 听起来不像有一个变通办法,但我想再次检查,看看你是否有任何想法.

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    在过去的几天里、我检查了几个不同的维度(P/I 值、环路带宽、电容值/尺寸、电介质类型(压电效应检查),引入泄漏路径以可能改变电荷泵行为,几年来我发现的一些测试位)-实际上、我甚至认为我以前关于增加环路带宽的建议用处不大。 无论哪种导致 PLL 在环路带宽以下漂移和反弹、它看起来都是基波并且对我测试的内容不敏感。

    在所有情况下、当参考和反馈相位跳至新的半稳定平衡点时、我都可以用手指轻轻地敲击 PLL、并在示波器上观察。 基准和反馈路径相位的长期直方图显示了一种独立于环路带宽的双模分布、该分布会在温度范围内发生扭曲和偏移。 我也感到非常沮丧、因为数据表中没有正确记录这种行为、因为它显然会对尝试在对输入到输出相位对齐敏感的应用中使用 PLL1 的任何人产生重大影响。 我会看到数据表已更新。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Derek — 感谢您如此彻底地研究这一点。  感谢您的努力。  听起来这就是它在此时的样子。