• 状态 Resolved
  • 已锁定 已锁定
  • 回复 3 回复
  • 订户 0 订户
  • 视图 82 视图
  • 用户 0 会员在此处
选项
选项
相关

This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] CDCI6214：RESETN 电路、重新校准、校准持续时间

admin
Guru**** 2693905 points

Other Parts Discussed in Thread: CDCI6214, CDCE6214

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/1583059/cdci6214-resetn-circuit-re-calibration-calibration-duration

部件号： CDCI6214
主题中讨论的其他器件： CDCE6214

您好、

我们在其中一个项目中使用了 CDCI6214。
我们 请勿 依赖 EEPROM 内容、在每个上电周期后通过 I2C 重新配置 CDCI6214、并在配置结束时重新校准。

我现在有以下问题：

a) 如果我们执行重新校准（数据表中为 9.5.1）、我们是否需要 RESETN 引脚上的电阻器和电容器？ （我们会使 RESETN 保持打开状态）
b) 校准需要多长时间？
C) STATUS1 寄存器中的“LOCK_DET_A"和“和“LOCK_DET"位“位有何差异？
d) 是否可能不会通过重新校准来清除 STATUS1 寄存器中的粘滞位“unlock_s"？“？
（重新校准后，I 从 STATUS1 寄存器读取 0x0C0F）

谢谢、此致、
Patrick
 

  • 0
    TI__Guru**** 2693905 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Patrick、

    a) 是、因为为了正确启动器件/进行电源时序控制、建议使用此引脚上的延迟。

    b) 校准时间将取决于配置、但我相信它在 1ms 内。 我将再次咨询我们的设计团队。

    C) 我将与设计团队一起研究这一点。

    D) 是。可以通过向粘滞位写入 0 来清除粘滞位。 单独进行 Re 校准不会清除该位。

    与此同时、是否有理由使用 CDCI6214、而不是 CDCE6214？ 不建议在新设计中使用 CDCI6214。  

    此致、

    CRIS

  • 0
    TI__Guru**** 2693905 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    CRIS、

    d) 数据表可能需要更新、因为它是编写的“锁定检测粘滞位“。 这表示 PLL 和的失锁
    这只能通过重新校准或通过 RESETN/SYNC 引脚进行硬复位来清除“

    无论如何、向 UNLOCK_s 位写入 0 确实清除了该位、因此 这个问题得到了解决。

    使用  CDCI6214 而不是 CDCE6214  的原因是、我们在几乎完全相同的环境中的一个较旧项目中使用了 CDCI6214。 唯一的区别是我们现在也使用 Y0、并且 RESETN 不再连接到复位信号。

    此致、
    Patrick

  • 0
    TI__Guru**** 2693905 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Patrick、

    我懂了。  

    c) lock_det 是数字锁定检测位、一旦 VCO 校准完成、该位就会变为高电平。 LOCK_DET_A 是模拟锁定检测位、一旦 PLL 环路闭合、该位就会变为高电平。  

    此致、

    CRIS