This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] LMK00301:LMK00301:需要澄清结至外壳热阻(顶部与底部)

Guru**** 2923920 points

Other Parts Discussed in Thread: LMK00301

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/1651607/lmk00301-lmk00301-clarification-needed-on-junction-to-case-thermal-resistance-top-vs-bottom

器件型号: LMK00301

尊敬的 TI 团队:

我正在研究 LMK00301 的热特性、需要澄清结至外壳和结至电路板热阻。

数据表列出了“结至外壳(顶部)(DAP)“的测量值。 但是、相关的脚注规定 DAP(裸片连接焊盘)连接到 16 个过孔。 过孔位于元件底部的电路板中、这严重意味着此测量值实际上可能代表结至外壳(底部)或结至电路板电阻、而不是顶部。

您能否澄清一下所述的结至外壳测量是针对封装的顶部还是底部? 脚注似乎与“顶部“标识相矛盾、我需要确定进行热分析。

谢谢您、

Tom Mazin

Optunity Ltd.

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Tom、

    问得好。 我研究了具有相同封装的其他零件、似乎规格大致是顶部和底部的平均值。  

    您可以假设结至外壳热阻为 18.2°C/W(顶部)和 3.8°C/W(底部)。

    谢谢、

    Michael