[参考译文] LMK3H0102：Probe Card 参考原理图

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/1651895/lmk3h0102-reference-schematic-for-probe-card

器件型号： LMK3H0102

尊敬的团队：

我们正在设计探针卡来测试 PCIe Gen6。我们需要能够支持 PCIe 第 6 代 HCSL 时钟的器件

我们不会使用 I2C 接口、而是希望为 VDD 和 VDDO 使用单电源、以便节省测试仪资源。请将参考原理图与这两个特性共享。
此器件可用于晶圆测试吗
它可以承受的关闭周期时间是多少、因为会有超过 1M 的接触、每次我们都会关闭此设备。

此致

Dinesh

3 个月前

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2933630 points

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尊敬的 Dinesh：

我们不会使用 I2C 接口、我们希望为 VDD 和 VDDO 使用单电源、以便节省测试仪资源。请与这两个功能共享参考原理图。

LMK3H0102V33RERR (3.3V) 和 LMK3H0102V18RERR (1.8V) 是 LMK3H0102 的默认配置、在两个输出上运行 100MHz 100 Ω LP-HCSL。

LMK3H0102 与 PCIe 第 7 代兼容

此器件是否可用于晶圆测试 [/报价]
只要环境在 –40°C 至 85°C 之间、就不用担心。

它可以承受的关闭周期时间是多少、因为每次我们都将关闭此设备。

我们不会针对这么多下电上电周期指定器件、而是对数据表中列出的器件进行老化测试。

我将在内部与团队讨论您的问题、并向您提供反馈。

此致、

Sandra
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0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2933630 points

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请分享这两个功能的参考原理图。

您可以使用 EVM 用户指南中的原理图示例。

此致、

Sandra

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2933630 points

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尊敬的 Dinesh：

它可以承受的关闭周期时间是多少、因为每次我们都将关闭此设备。

这些测试是在室温下进行的吗？

此致、

Sandra

时钟和时序（参考译文帖）

时钟和时序（参考译文帖）(Read Only)

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