[参考译文] LMX2592：辐射诱发闩锁的易感性和缓解？

https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/577759/lmx2592-susceptibility-and-mitigation-of-radiation-induced-latch-up

我们正在评估低地球轨道卫星的这一部分(辐射是0.5 -5 TID)，并担心低地球轨道辐射造成的延迟效应(即只要能够恢复，我们就能承受非破坏性效应)。

1.是否有关于此部件如何响应闩锁的任何数据/信息

2.如果这是一个问题，我们希望通过持续监控电流和在锁扣情况下重启电路板来缓解这一问题

答 对于零件在延迟状态下可以生存的时间长度，保守/安全的数字是什么？ 大小顺序正常(即秒，毫秒？)

B. 阈值电流值的保守/安全数字是多少？ (可能是数据表上的Abs. Max值？)

3.是否有其他辐射诱发的影响，我们应加以注意，或有任何强烈建议，反对在低地球轨道环境中使用这一部分

谢谢！