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[参考译文] LMK04906:数据表/仿真工具中的 OSCout/CLKout 相位噪声测量的是单端还是差分?

Guru**** 1818760 points
Other Parts Discussed in Thread: LMK04906, LMX2492, LMK04816, LP5912
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https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/975040/lmk04906-oscout-clkout-phase-noise-in-datasheet-simulation-tool-measured-single-ended-or-differential

器件型号:LMK04906
主题中讨论的其他器件: LMX2492LMK04816LP5912

您好!

LMK04906数据表在第108页提供了相位噪声图、比较了 OSCout/CLKout VCXO 和 VCO 相位噪声性能。 此测量是否如第91页(图34)所述? 即、该数字是单端还是差分测量(使用外部平衡-非平衡变压器)?

我们将 LMK04906设计成了一款产品、但无法实现与数据表中给出的 OSCout/CLKout 输出相同的本底噪声性能。 但是、我们将 LVPECL OSCout0输出用作两个单端输出、如图33 (第91页)所示。 我们现在要问我们是否可以对它做些什么。

作为本底噪声、我们能够达到大约-150dBc/Hz。 参考时钟是具有 LVCMOS 输出的125MHz 超低噪声晶体振荡器(1kHz:-137dBc/Hz、10kHz:-158dBc/Hz、100kHz:-167dBc/Hz、floor:-169dBc/Hz)。 根据仿真、我们应该在旁路了 LVPECL 标准和分频器的 OSCout0输出上达到接近-159dBc/Hz。

如果仿真数字在我们的单端场景中是真实的、那么有什么提示可以尝试降低本底噪声? 哪些电压引脚可以提高芯片的本底噪声?

此致、并提前感谢您

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    您好、Simon、

    对于本底噪声发生如此大的变化、我不会指望平衡-非平衡变压器会成为问题。

    您的低噪声振荡器的这些数字是在电路内测量还是在规格内测量?  是否可以在电路中测量振荡器的性能?  如果在到达输入缓冲器之前发生了某种情况、性能会降低、那么您当然不会再得到它。

    您是否在 OSCin 输入端使用分压器将 LVCMOS 输出电压降低到0.2Vpp 和2.4Vpp 之间、符合 Voscin 规范?

    您是否使用图33中所示的相同电阻器值?

    73、
    Timothy

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    您好、Timothy、

    为了澄清这一点、我们在应用中不使用平衡-非平衡变压器。 我们将差分 LVPECL 分为两个(180°移位)单端 LVPECL 信号、这些信号路由到其他两个 IC (LMX2492、ADF41513)、与数据表中的图33类似。

    我最初的意思是、数据表中图38给出的本底噪声表征是通过使用差分 LVPECL (LMK04906和信号分析器之间带有不平衡变压器)还是根据图34使用单端信号来实现的。 当然、通过将输出用作单端输出、输出信号现在还包含共模噪声、当差分使用 LVPECL 输出时、通常会抑制共模噪声。 我的问题是、这种共模噪声是否会导致本底噪声增加。

    上面 ME 给出的相位噪声数在电路内测量、但是时钟输出和调优电压当前与 LMK04906断开连接。 因此、从理论上讲、VCXO 的输出应该非常纯净、这已经需要一段时间来调试其电源、但这是另一个问题。

    有趣的是、您提到了分压器和 V_OSCin 输入范围。 您是否看过我的另一个主题? e2e.ti.com/.../3602583

    我们目前仅使用直流块、而没有 LMK04906BEVM 中所示的分压器、但我们仍在质疑这是不是正确的方法、因为正如您所说的、这种方法不符合电气特性表中给出的最大输入电压。 您认为这可能是个问题吗? 此外、直流块电容器的值是否重要? 我们对125MHz LVCMOS 信号使用10nF、但我不确定这是否会将 LMK04906输入级的本底噪声增加到低于由 LMK04906输入阻抗形成的直流块的截止频率。

    这可能是我们要尝试的下一项操作。

    感谢您的回复和致以最诚挚的问候

    Simon

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    您好、Simon、

    [报价用户="Simon Kueppers "]您是否看到过我的另一个主题?我没有看到另一个主题。  我只是瞥了一眼它。  CLKIN 输入确实具有 可与直接 CMOS 输入一起使用的 MOS 输入模式。  OSCin 不是、因此不是100%正确。  是的、使用 LMK04816输入终端。

    [引用 USER="Simon Kueppers ]]我最初的意思是、数据表中图38给出的本底噪声表征是通过使用差分 LVPECL (LMK04906 和信号分析器之间具有平衡-非平衡变压器)还是根据图34使用单端信号来实现的。 [/报价]

    我不确定此测量中使用的方法。

    但是、输入的所述本底噪声(-169dBc/Hz)小于示例中给出的本底噪声(-165dBc/Hz)、并且您测量的噪声(-150dBc/Hz)大约比图像中所示的本底噪声大10dB。  我不会期望 SE 与 Diff 中的差异会在本底噪声测量中产生如此大的差异。

    [引用 user="Simon Kueppers "]这样、我们就不符合电气特性表中给出的最大输入电压。 您认为这可能是个问题吗?
    我认为这可能是一个问题。

    [引用 USER="Simon Kueppers ]*此外、直流块电容器的值是否重要? 我们对125MHz LVCMOS 信号使用10nF、但我不确定这是否会将 LMK04906 输入级的本底噪声增加到低于由 LMK04906 输入阻抗形成的直流块的截止频率。[/引述]
    我认为这个电容器值不是一个问题。

    让我知道降低输入电压后会发生什么情况。

    73、
    Timothy

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    您好、Simon、

    您是否仍需要此问题的支持? 如果我们没有听到您的声音、我会将其标记为"已解决"。

    此致、

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    尊敬的 Derek:

    感谢您的提问。 由于最近欧洲天气恶劣,我尚未能够进一步解决上述问题。

    将在本周结束时返回测量值。

    此致

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    现在、我已经测量了电路内的基准 VCXO、并且已经进行了大量调试来改善其电路内相位噪声。

    我能够非常接近的 VCXO 规格

    1kHz:-137dBc/Hz
    10kHz:-158dBc/Hz
    100kHz:-167dBc/Hz
    1MHz:- 169dBc/Hz

    但是、在大约400kHz 的左侧(并在附近移动)、直流/直流转换器仍然存在单个峰值、我们希望在下一个硬件版本中可以消除该峰值(以及高于3MHz 的杂散)。

    VCXO 通过分压器电路(100R/51R)和 LMK04816 EVM 的100nF 直流阻断电容器再次连接到 LMK04906。 然后、我测量了 OSCout LVPECL 输出、如图所示。 34 (在 LMK04906数据表中)。 VCXO 的 Vtune 打开(100nF 旁路至接地)、未连接到 LMK04906、因此完全开环。 结果是:

    显然、峰值仍然存在(从那时起已移至130kHz 左右)、并且可以看到一些较低频率的杂散、但这可能来自测量设置(必须确认)。

    在该测量中、我们可以实现大约154dBc/Hz 的 OSCout 本底噪声、与数据表和时钟设计工具建议的值相比、我认为仍然缺少几分贝。 我对 VCXO 相位噪声使用了非常保守的值(大约-165dBc/Hz 本底噪声)、以了解它如何影响 OSCout 输出。 但是、即使采用此设置、我仍然应该能够根据仿真获得大约-158dBc/Hz 的本底噪声。

    我想知道本底噪声增加的原因是什么。 我想、连接到 FPGA (引脚接地)的 UWIRE 线路可能是问题所在、但我认为 FPGA 接地噪声应该是相当小的、不是很平坦的。

    我想、从差分 LVPECL 到单端 LVPECL (在此处测量)时、本底噪声增加的差异远接近-3dB 的 SNR 损失、 因此、我询问上面是否以差分方式记录了仿真曲线和数据表曲线(例如使用某种外部平衡-非平衡变压器)。 编辑:在短时间内、我能够获得适合125 MHz 的180°混合动力、并尝试了这一理论。 您似乎是对的、差分和单端之间的差异几乎看不到。

    电源与 EVM 进行了紧密设计、但我们使用由滤波直流/直流转换器模块供电的 LP5912 LDO 为 LMK04906芯片供电。

    100R/51R 分压器将3.3V LVCMOS 电压信号摆幅下拉至1.1Vpp。 这是否不足以达到足够高的 OSCin 噪声水平? 编辑:我尝试将分压器换用为51R 系列100R 分流器、并且本底噪声始终下降约1.0至1.5dB。 我用一个短接(LMK04906 EVM 样式)替代了分压器、并且本底噪声水平得到了恢复。 我开始怀疑 VCXO 的输入压摆率可能不够。

    有什么想法我们可以开始四处走动看看什么会产生什么影响?

    编辑:我进一步使用 OSCin 电路、通过使用以下电路、我现在可以达到157dBc/Hz

    VCXO -> 10nF 系列-> 33R 系列/100R 分流器-> 10nF 系列-> OSCIN*,其它 OSCIN 通过10nF 接地。

    不幸的是,仍然缺少2 dB,但我现在将保留这种方法,尽管我们可以真正使用2 dB :-)

    我将-160dBc/Hz 和大约3dBm (50欧姆)转换为大约100nV/sqrtHz。 我不确定 OSCin 缓冲器的电源抑制比、但这很容易处于节点 Vcc7处的电源噪声范围内。 我注意到 LMK04816使用1000R (!) 铁氧体磁珠连接到 VccPLLPlane、可过滤高于100kHz (恰好在峰值几 dB 后、即使在测量的频谱中也可见)的噪声。 因此、在我看来、R-C 可能会对 Vcc7引脚进行滤波、以获得更好的噪声响应。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Simon、

    [引用 USER="Simon Kueppers ]]在此测量中、我们可以实现大约154dBc/Hz 的 OSCout 本底噪声、与数据表和时钟设计工具的建议相比、我认为仍然缺少几分贝。 我对 VCXO 相位噪声使用了非常保守的值(大约-165dBc/Hz 本底噪声)、以了解它如何影响 OSCout 输出。 但是、即使采用此设置、我仍然应该能够根据仿真获得大约-158dBc/Hz 的本底噪声。
    根据122.88MHz 数据表中的图、我还希望您更接近-158dBc/Hz。  这似乎也是你的仿真的结果。

    [引用用户="Simon Kueppers ]]我想、从差分 LVPECL 到单端 LVPECL (此处测量)、本底噪声增加的差异远接近于-3dB 的 SNR 损失、 因此、我询问上面是否以差分方式记录了仿真曲线和数据表曲线(例如使用某种外部平衡-非平衡变压器)。 编辑:在短时间内、我能够获得适合125 MHz 的180°混合动力、并尝试了这一理论。 您似乎是对的、差分和单端之间的差异几乎看不到。[/引述]
    我认为这是因为在这些"较高"频率下、摆幅(SNR)不是主要影响。  我已经看到、在低频时、嗯、不是那么低、例如、3.3 LVCMOS 输出具有比 LVPECL 更好的本底噪声。  它的本底噪声比 LVDS 更好。  还有 LVPECL 在使用和不使用平衡-非平衡变压器时的本底噪声差异。  在125MHz 的频率下、噪声往往遵循10*log(N)频率、其中 N 是两个频率的比值、而噪声在更高的输出频率下更高。

    [引用用户="Simon Kueppers "]

    编辑:我进一步使用 OSCin 电路、通过使用以下电路、我现在可以达到157dBc/Hz

    VCXO -> 10nF 系列-> 33R 系列/100R 分流器-> 10nF 系列-> OSCIN*,其它 OSCIN 通过10nF 接地。

    不幸的是,仍然缺少2 dB,但我现在将保留这种方法,尽管我们可以真正使用2 dB :-)

    [/报价]

    -157 dBc/Hz 是良好的。  同样、我认为您可以根据图38中的图更好地获得一个 smidgen。  这可能是20 MHz 偏移下-158或-159、而在20 MHz 偏移下、它看起来低至-160 dBc/Hz。

    [引用 USER="Simon Kueppers ]]我将-160dBc/Hz 和大约3dBm (50欧姆)转换为大约100nV/sqrtHz。 我不确定 OSCin 缓冲器的电源抑制比、但这很容易处于节点 Vcc7处的电源噪声范围内。 我注意到 LMK04816 使用1000R (!) 铁氧体磁珠连接到 VccPLLPlane、可过滤高于100kHz (恰好在峰值几 dB 后、即使在测量的频谱中也可见)的噪声。 因此、在我看来、R-C 可以过滤 Vcc7引脚以获得更好的噪声响应。[/quot]

    [引用 user="Simon Kueppers "]我们可以开始四处查看哪些因素会产生影响的任何想法吗?

    我想转换速率和电源噪声。  这就是您要处理的内容...

    我们使用了 Crystek CVHD-950-122.88MHz VCXO。  最适合您应用的是 Crystek CVHD-950-125 MHz VCXO。  如果您的 VCXO 是不同的品牌或型号、则输出驱动器可能会不同、并导致不同的压摆率。  通过使用交流负载接地、您可能能够优化... 但您似乎已经使用先前的优化结果完成了此练习。

    我希望 PDN 有改进的空间。  因此、我同意进一步的测试可能会导致一些优化。  我在过去看到过一些铁氧体磁珠、导致输出本底噪声发生嗡嗡声。  尽管这仅适用于 LVDS、而不适用于 LVPECL。

    关于杂散的另一个项目。  如果您移除 CLKIN 信号、这对输出有何帮助?  或 PLL1相位检测器频率的变化?

    73、
    Timothy

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    [引用用户="Timothy T"]

    我想转换速率和电源噪声。  这就是您要处理的内容...

    我们使用了 Crystek CVHD-950-122.88MHz VCXO。  最适合您应用的是 Crystek CVHD-950-125 MHz VCXO。  如果您的 VCXO 是不同的品牌或型号、则输出驱动器可能会不同、并导致不同的压摆率。  通过使用交流负载接地、您可能能够优化... 但您似乎已经使用先前的优化结果完成了此练习。

    我希望 PDN 有改进的空间。  因此、我同意进一步的测试可能会导致一些优化。  我在过去看到过一些铁氧体磁珠、导致输出本底噪声发生嗡嗡声。  尽管这仅适用于 LVDS、而不适用于 LVPECL。

    关于杂散的另一个项目。  如果您移除 CLKIN 信号、这对输出有何帮助?  或 PLL1相位检测器频率的变化?

    [/报价]

    感谢您的回应、因此我们似乎走了正确的道路。 我们使用的是 KVG 公司的 VCXO、它与您提到的 Crystek CVHD-950非常相似、包括相位噪声和压摆率(至少要比较数据表)。 因此、目前我假设我们应该达到相同的性能。 但是、由于我们在这里讨论单个分贝、细微的差异可能已经足以影响性能。

    我将尝试在即将推出的修订版中改进 PDN、也许我们可以降低到最后2dB。 下面是 OSCout 测量的当前状态。 有趣的是、本底噪声(忽略杂散)似乎在20MHz 以上降至-160dBc/Hz 甚至-161dBc/Hz、我认为这很可能是 LP5912 LDO 的电源噪声。

    这些测量都是在 CLKIN 输入无输入的情况下完全开环进行的。 我对毛刺并不是很担心、它们似乎也会随我测量的房间而变化。 一旦电路板位于 EMI 严格的外壳中、我们将详细了解它们。 高频杂散似乎来自系统中的直流/直流转换器。