[参考译文] LMK05318B：编程后的器件寄存器图像检查/比较

您好、Leo、

1. "提出要求的原因是、在开始检查 R157的寄存器位5后、客户遇到生产单元编程仍然失败、稍后只需重新编程器件即可通过测试。"

• 如果我理解不正确、请纠正我的问题：客户注意 到 NVMCRCERR 会在某些器件上被标记、但在重新编程后 、NVMCRCERR 会被清除、器件会按预期运行？

2.客户可以使用  第9.5.8节中列出的指令读回 EEPROM

此致、

Jennifer

您好、Jennifer、

 对于 Q1、编程后未在寄存器 NVMCRCERR 上标记、但某些单元未通过功能测试、故障单元能够通过 LMK05318的重新编程进行修复。

而对于 Q2、您可能会使用您已经在通信的 CK Yong 在单独的 e2e 线程上闭合环路。 因此、是否应将此主题视为已关闭并将焦点转移到客户的帖子？

https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/1122897/lmk05318b-tics-pro-checksum-verification/4166231?focus=true#4166231

BR、

Leo

您好、Leo、

请进一步详细说明"失败"的含义。 输出是否未显示？ 是否已编程错误设置？

此致、

Jennifer

您链接的线程已关闭。 我很困惑你的值班重点是什么。