[参考译文] LMX2572：低温下的相位噪声变化

您好、Ninomiya-San、

什么是参考时钟频率？

LMX2572最初在多大温度下进行校准和锁定？ 例如、它是否锁定在25°C、然后客户在不同温度下测量相位噪声？

您好、Ninomiya-San、

寄存器设置看起来不错。 由于4943MHz 和4948MHz 彼此非常接近、并且您在每个温度下对它们进行了校准、因此我不希望出现较大的相位噪声差异。  

客户测试了多少台设备？ 他们能否尝试设置 VCO_DACISET_FORCE = 1、然后将 VCO_DACISET 值改变为大约151 (十进制)？

尊敬的 Fung-San：

客户通过另一个 LMX2572测量相位噪声。 波动频率似乎不同，但也发生了同样的现象。

您能描述以下寄存器吗？
 - VCO_DACISET
 - VCO_CAPCTRL

他们尝试了以下测量方法。
手順①测量方法(μ m)：
 -将合成器设置在+35°C 以下
 -测量+35°C 下的相位噪声
 -将温度更改为-30摄氏度
    *不要再次将合成器设置在-30摄氏度以下
 -测量-30°C 下的相位噪声

2号测量方法(手順②)：
 -将合成器设置在+35°C 以下
 -测量+35°C 下的相位噪声
 -将温度更改为-30摄氏度
  -再次将合成器设置为-30摄氏度以下
 -测量-30°C 下的相位噪声

请检查随附的测量结果。

在℃2测量方法(手順②-30 μ s)的情况下、它观察到偏移频率约为5kHz 至80kHz 时的相位噪声特性发生变化。
相位噪声特性发生这种变化的原因可能是什么？
如果参数此时发生变化、是否有读取方法？

此致、

Koshi Ninomiya

e2e.ti.com/.../LMX2572-Phase-Noise-variation-20100116.xlsx

您好、Ninomiya-San、

这对我来说有点奇怪、让我在实验室中检查一下、下周再回来。