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https://e2e.ti.com/support/clock-timing-group/clock-and-timing/f/clock-timing-forum/921889/lmx2594-about-register-r110
大家好、
R110用作重要的回读寄存器、有4种情况对应不同的值。您能告诉我什么原因可能导致 VTune 低电平和 VTune 高电平吗？
谢谢！
您好！
如果 PLL 失锁、VTune 将变为高电平或低电平。 当您的基准缺失或频率错误、或者 PLL 寄存器设置未正确设置时、可能会发生这种情况。
谢谢、
Vibhu
大家好、Vibhu、
我 最近 在 电路板上遇到了以下问题： 基准被关闭 、但 lmx2594锁定检测有时被锁定、然后丢失锁定。我电路板上的 lmx2594在 无辅助模式下工作、多路复用器引脚被配置为锁定检测模式。我了解的是、通常、如果基准被关闭、 PLL 应该一直没有锁。我不知道为什么我的 lmx2594有上述现象。
您是否设置了 R59[0]、LD_TYPE = 1？
Noel、您好！
是的、我在初始寄存器编程中设置了 R[59]=0x0001。这里是否存在任何问题？
当您测量输出时、它是否与锁定检测一致？ 复位或下电上电后、问题是否可重复出现？
我没有测量输出、只 在新软件版本上监控 PLL 的锁定状态。 我运行了5000次实验、PLL 解锁超过700次。这是可重复的。
谢谢。
什么是 LD_DLY 设置？ 如果它为0、您是否可以输入1000 (十进制)并重试？ LD_DLY 会在锁定检测中添加一些迟滞。
在我的初始上电序列中、R60设置为0x0000。
我发现 、当我回读 R110时、它的值在基准关闭的情况下会一直变化、大部分时间是0x00e8、中间是0x06e8和0x04e8、但 R111 和 R112的值永远不会改变。
为什么会发生这种情况？它是您上面提到的 LD_DLY 效果吗？
您是对的、我手动写入 R60=0x03e8而不是0x0000、然后锁定检测始终解锁。R110为0x00e8或0x06e8。
这似乎符合实际情况。
你很好。非常感谢。
我有另一个问题、从数据表中可以看出、如果 LD_DLY 设置为0、则在 VCO 校准成功后锁定检测立即变为高电平。 但是、如果 LD_DLY 设置为0、例如1000、当锁定检测变为高电平时？或者在锁定检测变为高电平之前、哪些条件是正常的？
LD_DLY 是在锁定建立后在锁定检测引脚上指示之前添加的延迟。 该延迟值以状态机时钟周期为单位。
数据表的"7.3.2.5状态机时钟"部分。
数据表 刚刚编写了一个简单的句子、"状态机时钟会影响各种特性、例如锁定检测延迟、VCO 校准和斜升"。
没有提到它是如何受到影响的。我只是想了解更多细节，并帮助 lmx2594在 所有条件下都能在电路板上更加稳健。
LD_DLY 实际上在 FPD/4上运行。 1µs、µs LD_DLY = 1000且 FPD = 1MHz、则延迟时间= 1000 x 4 x 4 μ s = 4000 μ s。
设置此 LD_DLY 意味 着当 VCO 校准完成后锁定检测将在该延迟后变为高电平 ，对吧？这可能更真实地反映 PLL 的锁定状态。在此延迟期间 PLL 将做什么或只是放弃？
上面的示例似乎有点不一致。 µs 时间= 1000 x 4 x 1µs = 4000 μ s 或1000*1us/4=250uS？
4000 μ s、µs 时钟速率为 FPD/4。
