我们遇到的问题与此类似: https://e2e.ti.com/support/clock-and-timing/f/48/t/504694
是否有任何关于导致这种情况的想法?
谢谢、
John
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是否有任何关于导致这种情况的想法?
谢谢、
John
校正:PLL1 PFD 的频率为10MHz、VCO 的频率为100MHz、PLL2 PFD 的频率为100MHz、VCO 的频率为2.4GHz。
我们在两个芯片上都看到了这个问题、因为它在主板中心的芯片上更加普遍(可能是因为它在冷却之前变得更热)。
PLL1间歇性解锁。
在美国国家半导体时钟设计工具的指导下、我有环路滤波器:
PLL1 C1:18nF
PLL1 C2:820nF
PLL1 R1:3.9kOhm
PLL2 C1:56pF
PLL2 C2:1.8nF
PLL2 R2: 2.2k Ω
尊敬的 Derek:
以下是寄存器编程:
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对于 PLL1失锁的情况、我还没有 CPout1电压测量值。 已启用跟踪保持模式。
感谢您的回答、
John
尊敬的 John:
我不认为我提到过的一点:如果 CPout2电压保持"恒定"、这并不总是一个好的指示 PLL2保持锁定状态的指标。 例如、如果 PLL1的 VCXO 调谐范围为±5kHz (±50ppm)、则 PLL2 VCO 在整个调谐范围内可能会出现±120kHz 的差异、这对应于调谐电压的大约6mV 差异(根据数据表中的 kVCO 估算)。 另一方面、这确实表明 OSCin 连接没有问题、因为如果输入信号中断、CPout2电压将摆动到电源轨。
我查看了您的寄存器编程、尽管我看到您已启用保持、但您没有启用任何保持条目检测机制、因此您实际上从未进入保持状态。 这是合理的、因为当基准信号被移除时、CPout1被拉至电源轨。 我想这就是为什么 PLL2锁不稳定的原因:只要 PLL1丢失输入信号或从锁中脱落、PLL2就会在 OSCin 相位上看到一个大瞬态。
保持条目检测位可能提供调试问题的方法。 通过将保持状态输出路由到其中一个状态引脚、HOLDOW_LOS_DET (与 LOS_EN 和 LOS_TIMEOUT 设置耦合)可以帮助指示 LMK04828是否检测到输入信号丢失。 如果输入信号丢失、可能是热循环的问题导致输入连接间歇性故障。
我还注意到、PLL 环路滤波器在集成 R3/R4设置为2kΩ Ω 的情况下进行编程。 我使用 PLLatinumSim 检查了这些值、发现这会产生显著的峰值、从而使环路的相位裕度降至大约40°。 在温度循环过程中、我怀疑环路滤波器值可能会发生足够大的变化、从而影响环路稳定性。 您应该考虑将 R3/R4分别降低至200Ω Ω;这可以减少峰值、将相位裕度提升至大约50°、并且还可以改善相位噪声。 这可以在软件中进行更改、因此作为快速调试检查很有用、以查看环路稳定性是否与您看到的问题相关。 1.8kΩ 相位裕度与此°相关、并且您可以对环路带宽进行某位限制(600kHz 与680kHz 间的关系)、您还可以将 R2减小至 Ω、这将使您的环路带宽(与 R3/R4变化相结合)高达58 μ V。
此致、
尊敬的 Derek:
感谢您的回答。 我使用 PLLatinum Sim 来设计更强大的 PLL2滤波器(包括降低 R3和 R4的值)、我不再看到 PLL1锁定时 PLL2会解锁。
现在、我的问题是 PLL1解锁、PLL2解锁它。 发生这种情况时、CPout1被上拉至3.3V。 我怀疑这些解锁是由 Clkin2 (基准 clk)或 OSCin 引脚上的噪声引起的。 您是否有任何提示可以识别这些问题、或其他关于解锁案例原因的想法?
John