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器件型号:TLC556 您好!
我们有一个在电路板上使用 TLC556双路计时器的设计。 在研究测试点的表面贴装测试点发生的可焊性问题时、测试点的 X 射线被采集、
问题是、TLC556是否会因 X 射线而损坏。 是否有任何有关限制的信息(白皮书或应用)?
谢谢你
Norm Donkersloot
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您好 Ron、
事实证明、使用 TLC556MD 的电路板怀疑 X 射线损坏不仅是2D 检查、 还执行了 CT 扫描。
我发现的行业信息对于 CT 扫描效果似乎并不是很具体。
这有一些很好的返回信息。 秒 3.2.1关于辐射效应。
http://www.dtic.mil/dtic/tr/fulltext/u2/a217976.pdf
您是否对 CT 扫描效果的参考有任何建议?
谢谢
标准